[发明专利]一种显示屏划痕缺陷检测的方法和系统

权利要求书

1.一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取缺陷图像的分割阈值；

对所述缺陷图像进行分割及预处理；

获取缺陷特征参数；

根据缺陷特征参数检测出划痕缺陷；

所述获取缺陷图像的分割阈值过程如下：

A)计算缺陷图像的梯度：采用四邻域的方法，以当前像素点为中心，计算上下左右四点与当前像素点灰阶差，以灰阶差最大者为当前像素点的梯度，如果所述灰阶差最大者的差值小于0，则该像素点梯度为0；

B)计算图像分割阈值：根据所述缺陷图像的梯度，查找梯度最大值时像素点的位置坐标，将所述梯度最大值作为图像分割阈值，如果梯度最大值超过预设阈值，则以最大梯度值的0.8倍作为图像分割阈值。

2.根据权利要求1所述的一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于：

所述对所述缺陷图像进行分割及预处理过程如下：

A)根据所述分割阈值，对缺陷图像进行二值化分割处理，获取分割图像；

B)把所述分割图像分别做三次膨胀，三次腐蚀，再三次膨胀，再三次腐蚀处理，得到均值滤波图像。

3.根据权利要求2所述的一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于：

所述获取缺陷特征参数的方法如下：

A）根据所述分割图像的预处理，从预处理二值图中搜索种子点位置，直至找到任一点灰阶为255的像素点，记录下该像素点的坐标；

B）获取缺陷连通图像；将所述均值滤波图像中与所述像素点相同位置的像素点作为种子点，采用八邻域区域生长方法，获取缺陷连通图像；

C）提取所述缺陷连通图像的骨架；

D）获取缺陷平均线宽；统计缺陷连通图像中所有灰度值为255的像素点数目，即为缺陷面积；用缺陷面积和骨架长度的比值F1表示缺陷的平均线宽；

E）用骨架长度和平均线宽F1的比值F2表示缺陷是属于长缺陷还是短缺陷；

F）获取缺陷图像的弯曲程度；在缺陷连通图像中，所有灰度值为255的像素点坐标中，横向坐标的最大值和最小值之差即为缺陷外接矩形的长度，纵向坐标的最大值和最小值之差即为缺陷外接矩形的宽度；获取缺陷外接矩形的长度和宽度之间较大者，用骨架长度与所述较大者之差的绝对值跟骨架长度的比值F3表示缺陷的弯曲程度。

4.根据权利要求3所述的一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于：

所述八邻域区域生长方法，包括：跟种子点相距最近的八个像素点，按照设定的灰阶差阈值，搜索与种子点灰阶之差在灰阶差阈值范围内的像素点，获取所述与种子点灰阶之差在灰阶差阈值范围内的像素点的位置坐标，并把所述与种子点灰阶之差在灰阶差阈值范围内的像素点作为下次搜索的新种子点，如此循环，直到没有像素点与种子点灰阶之差在灰阶差阈值范围内就停止搜索；将缺陷连通图像内所有像素点初始灰度值设为0，获取所有跟种子点灰阶差小于灰阶差阈值的点，然后在缺陷连通图像中将所述所有跟种子点灰阶差小于灰阶差阈值的点的灰度值标记为255，其余像素点灰度值标记为0。

5.根据权利要求3所述的一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于：

所述提取所述缺陷连通图像的骨架，包括：对二值图像进行腐蚀处理，得到腐蚀图像，将腐蚀后的图像进行开运算，获取腐蚀图像和开运算后的差值图像，把差值图像和提取的骨架图像合并，得到新的骨架图像并保存，再次将腐蚀图像进行新的骨架提取，如果新提取到的骨架图像所有像素都均为0，则停止提取。

6.根据权利要求3-5任一项所述的一种显示屏划痕缺陷检测的方法，其特征在于：

所述根据缺陷特征参数检测出划痕缺陷的方法如下：

当F2大于第一预设检测值，而F3小于第二预设检测值时，则确认该缺陷为划痕，否则该缺陷不是划痕。