[发明专利]一种永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法

权利要求书

1.一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、根据待测工件的型号选择合适的光源生成发射装置（201）；

所述光源生成发射装置（201）包括壳体（1701），所述壳体（1701）的一内侧面设有一个灯珠阵列（1101），所述壳体（1701）的内腔中沿所述灯珠阵列（1101）的灯光发射方向依次设有多波段滤光片（1301）、菲涅尔透镜（1401）、分光片（1501），所述灯珠阵列（1101）发出的白色发散光依次经过所述多波段滤光片（1301）、所述菲涅尔透镜（1401）形成多角度、多波段的同轴光源，所述多波段滤光片（1301）包括若干不同波段的滤光片（13011）；

S2、所述多角度、多波段的同轴光源照射待测工件表面；

S3、从待测工件表面反射的光线形成彩色图像，所述彩色图像传输给终端进行图像分析，根据图像中呈现出的不同颜色分布情况来判断待测工件的表面缺陷类型，具体即通过不同的颜色来定性区分上凸缺陷和下凹缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述灯珠阵列（1101）、所述多波段滤光片（1301）、所述菲涅尔透镜（1401）相互平行，所述分光片（1501）的一边与所述菲涅尔透镜（1401）边缘紧贴，且所述分光片（1501）与所述菲涅尔透镜（1401）成45°夹角，所述分光片（1501）的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口，所述第一出光口、所述第二出光口均与所述分光片（1501）成45°夹角，所述第一出光口处设有窗口玻璃（1601）。

3.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述灯珠阵列（1101）发出的光为6500K的白色光。

4.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述多波段滤光片（1301）上靠近所述灯珠阵列（1101）的一端贴合有散光板（1201）。

5.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述滤光片（13011）位于所述菲涅尔透镜（1401）的一倍焦距和两倍焦距之间。

6.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S1中待测工件的型号包括待测工件的形状大小、颜色，所述光源生成发射装置（201）根据待测工件的型号选择合适波段的所述滤光片（13011）以及合适的滤光片布局。

7.根据权利要求1所述的一种永磁体表面凹凸缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S2包括：白色发散光经过散光板（1201）后再经过所述多波段滤光片（1301）转化成多种不同波段的单色光，所述多种不同波段的单色光为多种不同颜色的单色光，所述多种不同波段的单色光经过所述菲涅尔透镜（1401）形成多种不同波段的单色平行光，所述多种不同波段的单色平行光具有多种不同的出射角，所述多种不同波段的单色平行光经过所述分光片（1501）反射后照射到待测工件表面，待测工件将所述多种不同波段的单色平行光反射后生成彩色图像。