[发明专利]一种大功率激光老化测试设备在审
申请号: | 202310604501.X | 申请日: | 2023-05-26 |
公开(公告)号: | CN116659818A | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 徐聪;刘曼玉;仲顺顺 | 申请(专利权)人: | 长沙航空职业技术学院(空军航空维修技术学院) |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;H05K7/20 |
代理公司: | 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 周晓艳;蔡实艳 |
地址: | 410124 湖南省长*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大功率 激光 老化 测试 设备 | ||
本发明提供了一种大功率激光老化测试设备,包括测试机柜以及设置于测试机柜上的测试装置、供电装置和散热装置;所述测试装置包括连接组件、底板、托板、光纤夹持组件和检测组件;所述连接组件与测试机柜相连;所述底板设置于连接组件上;所述托板与底板相连,用于对光纤进行支撑;所述光纤夹持组件与检测组件相连,用于对光纤头进行夹持;所述检测组件用于对光纤所发射的激光进行老化检测;所述供电装置用于对测试装置进行供电;所述散热装置用于对测试机柜进行散热。
技术领域
本发明属于光学检测技术领域,具体涉及一种大功率激光老化测试设备。
背景技术
泵浦源光器件输出激光的功率测量是诊断激光器性能的直接指标,对于泵浦源光器件的设计、制造、检测和应用均具有十分重要的意义。泵浦源光器件由泵浦源光器件以及与泵浦源光器件连接的光纤组成。
在对泵浦源器件的功率进行测试时,激光在散光时是否均匀以及散光过程中所产生的过高的热量均会影响功率检测结果的准确性。
发明内容
本发明提供了一种大功率激光老化测试设备,包括测试机柜以及设置于测试机柜上的测试装置、供电装置和散热装置;
所述测试装置包括连接组件、底板、托板、光纤夹持组件和检测组件;所述连接组件与测试机柜相连;所述底板设置于连接组件上;所述托板与底板相连,用于对光纤进行支撑;所述光纤夹持组件与检测组件相连,用于对光纤头进行夹持;所述检测组件用于对光纤所发射的激光进行老化检测;
所述供电装置用于对测试装置进行供电;
所述散热装置用于对测试机柜进行散热。
可选的,所述光纤夹持组件包括安装座、卡持件和光纤头;安装座安装于检测组件上,用于安装光纤头;在安装座上还设有用于对光纤头与安装座进行相互卡持锁紧的卡持件。
可选的,所述卡持件包括卡持部、连接部和限位部;所述卡持部插入安装座中并延伸至安装孔中,且在卡持部上套设有弹簧;所述限位部连接卡持部和连接部,且限位部设置为弹性结构件;所述连接部沿水平方向向远离安装座的方向自由延伸设置。
可选的,所述检测组件包括激光收集主体以及设置于激光收集主体上的温度传感器、功率探头、光谱检测元件和冷却结构;所述激光收集主体与光纤夹持组件相连,且激光收集主体内设用于对激光进行均匀散光和收集的腔体;所述温度传感器用于对腔体内的温度进行检测;所述功率探头用于对腔体内的激光功率进行检测;所述光谱检测元件用于对腔体内的激光光谱进行检测;所述冷却结构设置为水冷结构,用于对激光收集主体进行水冷。
可选的,所述激光收集主体包括第一主体和第二主体;在第一主体用于与第二主体相连接的端面上设有第一内凹半球结构,在第二主体用于与第一主体相连接的端面上设有第二内凹半球结构,第一内凹半球结构和第二内凹半球结构相互配合形成球形腔体;且在第一主体与光纤夹持组件相对应的位置处设有通孔,光束经通孔射入腔体内。
可选的,在第一内凹半球结构上设有用于对光束进行反射的散射锥形结构,所述散射锥形结构设置为中空结构,且散射锥形结构中空结构的中心轴线与通孔的中心轴线处于同一中心轴线上,散射锥形结构的外表面由多个从上至下依次增大的台阶组成。
可选的,在第一内凹半球结构和第二内凹半球结构的表面还均设有漫反射涂层,以使光束能够均匀散射。
可选的,所述测试装置还包括水冷组件,所述水冷组件包括第一水冷板、第二水冷板、水冷管和光纤激光器;第一水冷板的下端面与底板相连,第二水冷板与第一水冷板的上端面相连且在第一水冷板和第二水冷板之间形成有用于容纳冷却水的腔室;所述水冷管连接泵水装置和腔室,以为腔室输送或输出冷却水;所述光纤激光器设置于第二水冷板的上端面上。
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