[发明专利]光模块灵敏度测试方法和系统

说明书

本申请涉及一种光模块灵敏度测试方法和系统。所述方法包括：在接收到光信号时将光信号转换为相应的基准电信号，并在接收到衰减控制信号时对基准电信号进行衰减放大处理以得到衰减放大电信号，基于基准电信号确定相应的第一灵敏度，而基于衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度，由于衰减放大电信号是经过了信号衰减处理的信号，因此衰减放大电信号相较于基准电信号所存在的干扰信号较少，所以基于衰减放大电信号所得到的第二灵敏度相较于第一灵敏度的精准性较高，将经过不同信号处理后得到的第一灵敏度、第二灵敏度和预设灵敏度范围进行比对，从而择优确定最终的灵敏度测试结果，以此提高灵敏度测试质量。

技术领域

本申请涉及通讯技术领域，尤其涉及一种光模块灵敏度测试方法和系统。

背景技术

随着通信系统对光模块传输速率及容量要求的提高，大容量高速光模块得到迅速发展，为了能更好的应用光模块，在光模块应用之前需要对其进行灵敏度测试，但目前对光模块进行灵敏度测试的过程中受到干扰信号的影响导致光模块灵敏度测试质量较差，无法得到精准度较高的测试结果。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种光模块灵敏度测试方法和系统。

第一方面，本申请提供了一种光模块灵敏度测试方法，包括：

在获取到光信号时，将所述光信号转换为相应的基准电信号；

在接收到衰减控制信号时，对所述基准电信号进行衰减放大处理，得到衰减放大电信号；

基于所述基准电信号确定相应的第一灵敏度，并基于所述衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度；

根据所述第一灵敏度、第二灵敏度与预设灵敏度范围之间的比对结果，确定灵敏度测试结果。

第二方面，本申请提供了一种光模块灵敏度测试系统，所述系统包括光模块、误码仪设备、灵敏度测试板、灵敏度设备和计算机设备，所述光模块通过光纤为所述灵敏度测试板提供光信号，所述误码仪设备为所述灵敏度测试板提供预设误码值，所述灵敏度测试板按照所述预设误码值对所述光信号进行灵敏度测试得到测试信号，并将测试信号通过所述灵敏度设备传输至所述计算机设备，所述计算机设备根据所述测试信号确定灵敏度测试结果，所述测试信号包括所述光信号经过光电转换后的基准电信号以及所述基准电信号经过衰减放大处理后的衰减放大电信号。

基于上述光模块灵敏度测试方法，在接收到光信号时将光信号转换为相应的基准电信号，并在接收到衰减控制信号时对基准电信号进行衰减放大处理以得到衰减放大电信号，基于基准电信号确定相应的第一灵敏度，而基于衰减放大电信号确定相应的第二灵敏度，由于衰减放大电信号是经过了信号衰减处理的信号，因此衰减放大电信号相较于基准电信号所存在的干扰信号较少，所以基于衰减放大电信号所得到的第二灵敏度相较于第一灵敏度的精准性较高，将经过不同信号处理后得到的第一灵敏度、第二灵敏度和预设灵敏度范围进行比对，从而择优确定最终的灵敏度测试结果，以此提高灵敏度测试质量。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中光模块灵敏度测试系统的结构框图；

图2为一个实施例中灵敏度测试板的内部结构框图；

图3为一个实施例中控制电路的结构示意图；

图4为一个实施例中灵敏度测试板的内部结构框图；

图5为一个实施例中第一降压子电路的结构示意图；