[发明专利]隔行图像检测、隔行图像校正方法、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310614913.1 申请日: 2023-05-25
公开(公告)号: CN116647667A 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 李海丽;刘国栋 申请(专利权)人: 阿里巴巴(中国)有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 北京太合九思知识产权代理有限公司 11610 代理人: 胡冰群
地址: 311121 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 隔行 图像 检测 校正 方法 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种隔行图像检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测的图像;

采用多个统计量分别对所述图像的全场图像以及半场图像进行统计,得到所述图像的多个全场统计值以及多个半场统计值;所述多个统计量包括:用于描述隔行效应对应的帧内像素差异的统计量和/或用于描述帧间像素差异的统计量;

根据所述多个全场统计值,确定所述图像的第一全场锯齿概率;以及,根据所述多个半场统计值,确定所述图像的第一半场锯齿概率;

根据所述第一全场锯齿概率以及所述第一半场锯齿概率,确定所述图像的隔行检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用多个统计量分别对所述图像的全场图像以及半场图像进行统计,得到所述图像的多个全场统计值以及多个半场统计值,包括:

分别采用所述多个统计量对所述图像的全场图像以及半场图像进行逐像素统计,得到所述全场图像中的像素在所述多个统计量上的统计值,以及所述半场图像上的像素在所述多个统计量上的统计值;所述半场图像包括:对所述图像进行奇偶行拆分得到的顶场图像以及底场图像;

根据所述全场图像中的像素在所述多个统计量上的统计值,确定所述图像在所述多个统计量上的全场统计值;以及,根据所述半场图像上的像素在所述多个统计量上的统计值,确定所述图像在所述多个统计量上的半场统计值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,分别采用所述多个统计量对所述图像的全场图像以及半场图像进行逐像素统计,得到所述全场图像中的像素在所述多个统计量上的统计值,以及所述半场图像上的像素在所述多个统计量上的统计值,包括:

将所述全场图像、所述顶场图像以及所述底场图像分别作为待计算图像;

针对所述待计算图像上的任一像素,获取所述像素在所述待计算图像上的多个邻域像素的灰度值和/或所述像素在所述图像的上一帧图像上的灰度值;

根据所述像素的灰度值、所述多个邻域像素的灰度值和/或所述像素在所述图像的上一帧图像上的灰度值,计算所述像素在所述多个统计量上的统计值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据所述像素的灰度值、所述多个邻域像素的灰度值和/或所述像素在所述图像的上一帧图像上的灰度值,计算所述像素在所述多个统计量上的统计值,包括:

根据第一纵向差异与第二纵向差异和第三纵向差异之和的比较关系,确定所述像素的纵向差异比;所述第一纵向差异根据所述像素的上邻域像素的灰度值以及下邻域像素的灰度值确定;所述第二纵向差异根据所述像素的上邻域像素的灰度值以及所述像素的灰度值确定;所述第三纵向差异根据所述像素的下邻域像素的灰度值以及所述像素的灰度值确定;和/或,

根据第二纵向差异与第三纵向差异中的较小者与设定的第一阈值的比较关系,确定所述像素的纵向最小差异;和/或,

根据所述第二纵向差异与所述第三纵向差异的符号比较关系,确定所述像素的纵向梯度一致性;和/或,

根据第一横向差异与第二横向差异的符号比较关系,确定所述像素的横向梯度一致性;所述第一横向差异根据所述像素的左邻域像素的灰度值以及所述像素的灰度值确定;所述第二横向差异根据所述像素的右邻域像素的灰度值以及所述像素的灰度值确定;和/或,

根据第三横向差异与第四横向差异的符号比较关系,确定所述像素的场内横向梯度一致性;所述第三横向差异根据所述像素的左上邻域像素的灰度值以及右上邻域像素的灰度值确定;所述第四横向差异根据所述像素的左下邻域像素的灰度值以及右下邻域像素的灰度值确定;和/或,

根据所述像素的灰度值在相邻帧之间的帧间时序差异与设定的第二阈值的比较关系,确定所述像素的非静止特性;所述像素的灰度值在相邻帧之间的帧间时序差异根据所述像素的灰度值以及所述像素在所述图像的上一帧图像上的灰度值确定。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,根据所述第一全场锯齿概率以及所述第一半场锯齿概率,确定所述图像的隔行检测结果,包括:

计算所述第一全场锯齿概率与所述第一半场锯齿概率的比值;

若所述比值大于设定的第三阈值,则确定所述图像为隔行图像;

若所述比值小于或者等于所述第三阈值,则确定所述图像为逐行图像。

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