[发明专利]触控芯片的检测方法、装置和电子设备

说明书

本申请公开了一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，属于电子技术领域。该触控芯片的检测方法包括：对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

技术领域

本申请属于电子技术领域，具体涉及一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备。

背景技术

随着科技的发展，触摸屏也从之前的电阻屏发展为现在支持多指触摸的电容屏，电容屏是一种高灵敏度、高精度的触摸屏幕技术。因此，电容屏的生产制造过程需要高度的自动化和精密度，以确保产品的质量和稳定性。

其中，对于电容屏这一模组的测试，在模组端(即电容屏未安装到终端设备上之前)和整机端(即电容屏安装到终端设备上之后)均可以进行测试。主要包括如下几项：互容原始电容值、噪声检测、自容原始电容值、开路测试、短路测试等，其中，每个测试项的都存在一定的局限性，因此，现有技术中电容屏模组的误检测几率较高。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备，能够解决现有技术中电容屏模组的误检测几率较高的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测方法，所述方法包括：

对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；

根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

第二方面，本申请实施例提供了一种触控芯片的检测装置，所述装置包括：

采样模块，用于对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样，获得所述目标接收通道的第一采样数据，其中，所述内部互容采样为在目标过程中采集数据，所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导，并由所述触控芯片的接收通道接收的过程，所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道，所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征；

检测模块，用于根据所述目标接收通道的第一采样数据，检测所述触控芯片是否存在异常。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器和存储器，所述存储器存储可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的方法。

第六方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面所述的方法。