[发明专利]电极材料的物相预测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种电极材料的物相预测方法，其特征在于，包括：

获取所述电极材料对应的晶胞模型的数据集，所述数据集包括所述电极材料的晶胞结构数据和晶胞能量数据；

对所述晶胞结构数据和所述晶胞能量数据进行拟合运算，得到所述电极材料的团簇展开模型，所述团簇展开模型用于表示所述电极材料的结构与能量的对应关系；

基于所述团簇展开模型对所述电极材料在充电或放电过程的物相进行预测，得到所述电极材料在充电或放电过程的物相变化结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述电极材料对应的晶胞模型的数据集，包括：

基于结构对称性，对所述晶胞模型的结构进行筛选，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取所述电极材料对应的晶胞模型的数据集，包括：

基于静电势能，对所述晶胞模型的结构进行筛选，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于结构对称性，对所述晶胞模型的结构进行筛选，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据，包括：

针对所述晶胞模型中原子分布的各类结构，筛选存在结构对称性的结构中的一种结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据；

其中，所述结构对称性包括点对称、线对称和面对称中的至少一种。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述针对所述晶胞模型中原子分布的各类结构，筛选存在结构对称性的结构中的一种结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据，包括：

在预设的离子浓度下，针对所述晶胞模型中原子分布的各类结构，筛选存在结构对称性的结构中的一种结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述筛选存在结构对称性的结构中的一种结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据，包括：

筛选所述结构对称性满足预设的对称阈值的结构中的一种结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于静电势能，对所述晶胞模型的结构进行筛选，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据，包括：

针对所述晶胞模型中原子分布的各类结构，计算所述各类结构分别对应的所述静电势能；

筛选出预设数量的所述静电势能满足势能阈值的所述晶胞模型的结构，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述电极材料对应的晶胞模型的数据集，包括：

基于所述电极材料的所述晶胞结构数据，计算所述电极材料的所述晶胞能量数据。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述电极材料的所述晶胞结构数据，计算所述电极材料的所述晶胞能量数据，包括：

采用密度泛函理论，计算所述电极材料的所述晶胞结构数据，得到所述电极材料的所述晶胞能量数据。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，在所述计算所述电极材料的所述晶胞能量数据之后，所述方法还包括：

基于所述晶胞能量数据，对所述电极材料的所述晶胞结构数据进行评估，得到评估结果；

保留所述评估结果中所述晶胞结构数据正确的晶胞模型，删除所述评估结果中所述晶胞结构数据错误的晶胞模型。

11.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，在所述基于所述电极材料的所述晶胞结构数据，计算所述电极材料的所述晶胞能量数据之前，所述方法还包括：

响应于修改键长的指令，基于预设的离子浓度下所述晶胞模型中的原子分布，将所述晶胞模型中的原子模拟键长调整成为原子标准键长，得到所述电极材料的所述晶胞结构数据。