[发明专利]基站位置校正方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种基站位置校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取基站的测量报告MR和原始位置，所述MR包括时间提前量TA和终端位置，所述TA用于指示所述终端与所述基站间的距离，一个终端对应一个MR；

基于所述TA和所述终端位置，将所述MR中的异常MR剔除，得到目标MR；

根据所述目标MR和所述基站的MR数据底座，生成目标MR数据底座，所述MR数据底座包括所述基站在不同时间段测量得到的MR；

根据所述目标MR数据底座中的目标终端位置和目标TA，计算所述基站的目标位置；

在所述目标位置与所述原始位置间的距离大于第一预设阈值的情况下，将所述基站的原始位置确定为异常位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述TA和所述终端位置，将所述MR中的异常MR剔除，得到目标MR，包括：

将所述MR中满足第一预设条件的MR剔除，得到第一MR，所述第一预设条件为相同终端位置包括不同TA；

根据密度聚类法，将所述第一MR中满足第二预设条件的第一MR剔除，得到目标MR，所述第二预设条件为TA大于第二预设阈值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标MR和所述基站的MR数据底座，生成目标MR数据底座，包括：

在所述目标MR对应的基站位置的栅格数量与所述MR数据底座中的基站位置的栅格数量的比值小于第三预设阈值的情况下，将所述MR数据底座中的基站位置替换为所述目标MR对应的基站位置，生成目标MR数据底座；

在所述目标MR对应的基站位置的栅格数量与所述MR数据底座中的基站位置的栅格数量的比值大于或等于第三预设阈值的情况下，将所述MR数据底座中满足第三预设条件的MR剔除，得到目标MR数据底座；

其中，所述第三预设条件包括以下至少一项：

TA大于第四预设阈值；

TA小于第五预设阈值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标MR数据底座中的目标终端位置和目标TA，计算所述基站的目标位置，包括：

将所述目标终端位置作为圆心，所述目标TA作为半径，确定每个目标终端位置圆之间的交点；

将所述每个目标终端位置圆之间的交点中，满足第四预设条件的交点对应的位置，确定为基站的目标位置，所述第四预设条件为与其他交点之间的距离和最小。

5.根据权利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述将所述基站的原始位置确定为异常位置之后，所述方法还包括：

将所述基站的原始位置更新为所述目标位置。

6.一种基站位置校正装置，其特征在于，所述装置包括：获取单元、剔除单元、处理单元和计算单元，其中：

所述获取单元，用于获取基站的测量报告MR和原始位置，所述MR包括时间提前量TA、终端位置，所述TA用于指示所述终端与所述基站间的距离，一个终端对应一个MR；

所述剔除单元，用于基于所述TA和所述终端位置，将所述MR中的异常MR剔除，得到目标MR；

所述处理单元，用于根据所述剔除单元得到的所述目标MR和所述基站的MR数据底座，生成目标MR数据底座，所述MR数据底座包括所述基站在不同时间段测量得到的MR；

所述计算单元，用于根据所述处理单元得到的所述目标MR数据底座中的目标终端位置和目标TA，计算所述基站的目标位置；

所述处理单元，还用于在所述目标位置与所述原始位置间的距离大于第一预设阈值的情况下，将所述基站的原始位置确定为异常位置。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述剔除单元，具体用于：

将所述MR中满足第一预设条件的MR剔除，得到第一MR，所述第一预设条件为相同终端位置包括不同TA；

根据密度聚类法，将所述第一MR中满足第二预设条件的第一MR剔除，得到目标MR，所述第二预设条件为TA大于第二预设阈值。