[发明专利]傅里叶光谱自动基线校正方法、装置和存储介质在审

专利信息
申请号: 202310677270.5 申请日: 2023-06-09
公开(公告)号: CN116660176A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 李伟;兰树明;刘杨;王甜甜;王丽华 申请(专利权)人: 无锡迅杰光远科技有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32366 代理人: 周子轶
地址: 214000 江苏省无锡市新吴区菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 傅里叶 光谱 自动 基线 校正 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种傅里叶光谱自动基线校正方法,其特征在于,所述方法包括:

获取傅里叶光谱;

对所述傅里叶光谱进行四次多项式拟合,得到拟合后的第一傅里叶光谱基线;

根据所述傅里叶光谱和拟合后的所述第一傅里叶光谱基线,识别所述傅里叶光谱中的峰;

根据识别得到的峰对所述傅里叶光谱进行校正,确定得到自动基线校正后的所述傅里叶光谱。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述傅里叶光谱进行四次多项式拟合,得到拟合后的第一傅里叶光谱基线,包括:

对所述傅里叶光谱进行首尾校验,得到校验后的所述傅里叶光谱;

对校验后的所述傅里叶光谱进行四次多项式拟合,得到拟合后的所述第一傅里叶光谱基线。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述傅里叶光谱进行首尾校验,得到校验后的所述傅里叶光谱,包括:

若S(1)0.1+S(2)和/或S(N)0.1+S(N-1),则令S(1)=S(2),和/或,S(N)=S(N-1);

其中,S(i)表示所述傅里叶光谱中的第i位的光谱,i=1,2,3…N。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述傅里叶光谱进行四次多项式拟合,得到拟合后的所述第一傅里叶光谱基线,包括:

拟合后的所述第一傅里叶光谱基线包括:,其中为波数。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述傅里叶光谱和拟合后的所述第一傅里叶光谱基线,识别所述傅里叶光谱中的峰,包括:

对于每个波数,对比所述傅里叶光谱和拟合后的所述第一傅里叶光谱基线的值,若,则将识别为所述傅里叶光谱中的峰;

其中,为所述波数下的所述傅里叶光谱,为所述波数下的拟合后的所述第一傅里叶光谱基线, =1,2,3…N,N为所述傅里叶光谱中的总数。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

检测峰中的是否为1或者N;

若是,则将识别为所述傅里叶光谱中的峰;

若否,则若,则将识别为峰,若,则识别为峰,并再次执行所述检测所述峰中的是否为1或者N的步骤。

7.根据权利要求1至6任一所述的方法,其特征在于,所述根据识别得到的峰对所述傅里叶光谱进行校正,确定得到自动基线校正后的所述傅里叶光谱,包括:

去除标记为峰的傅里叶光谱及其对应的波数,并再次进行四次多项式拟合,生成拟合后的第二傅里叶光谱基线;

若所述第二傅里叶光谱基线与所述第一傅里叶光谱基线一致,则将所述傅里叶光谱与所述第一傅里叶光谱基线的差值识别为自动基线校正后的所述傅里叶光谱。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

若所述第二傅里叶光谱基线和所述第一傅里叶光谱基线不一致,则根据所述傅里叶光谱以及所述第二傅里叶光谱基线再次识别所述傅里叶光谱中的峰。

9.一种傅里叶光谱自动基线校正装置,其特征在于,所述装置包括存储器和处理器,所述存储器中存储有至少一条程序指令,所述处理器通过加载并执行所述至少一条程序指令以实现如权利要求1至8任一所述的方法。

10.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质中存储有至少一条程序指令,所述至少一条程序指令被处理器加载并执行以实现如权利要求1至8任一所述的方法。

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