[发明专利]一种拉曼光谱探测样品池及拉曼光谱探测装置

权利要求书

1.一种拉曼光谱探测样品池，所述样品池包括样品池本体，所述样品池本体为管状，其特征在于，所述样品池本体的内壁上相对设置有入射光纤和出射光纤，所述入射光纤和所述出射光纤固定设置在所述样品池本体的内壁，所述入射光纤和所述光纤的一端伸入所述样品池本体内部，所述入射光纤和所述光纤的另一端伸出所述样品池本体，所述入射光纤和所述出射光纤由所述样品池本体的同一端伸出，所述入射光纤和所述出射光纤均为D形光纤。

2.根据权利要求1所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述入射光纤和所述出射光纤的剖面相对设置，均朝向所述样品池本体的中心轴。

3.根据权利要求2所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述D形光纤为去掉一部分包层或纤芯的光纤，所述D形光纤的剖切深度小于R/2，其中R为包层的半径。

4.根据权利要求3所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述入射光纤的剖切深度不同，所述入射光纤的剖切深度由靠近入射端到远离入射端逐渐增大；所述出射光纤的剖切深度相同。

5.根据权利要求4所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述入射光纤的剖切深度大于小于其中，R为包层的半径，r为纤芯的半径。

6.根据权利要求5所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述入射光纤的剖面上固定设置有第一纳米阵列，所述第一纳米阵列由贵金属条阵列排布形成，所述贵金属条的排列间距为100-200nm。

7.根据权利要求6所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述入射光纤的剖面上固定设置有贵金属纳米颗粒，所述贵金属纳米颗粒的尺寸为20-200nm，间距为50-100nm。

8.根据权利要求7所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述出射光纤的数量大于所述入射光纤的数量，所述入射光纤和所述出射光纤完全覆盖所述样品池本体的内壁。

9.根据权利要求8所述的拉曼光谱探测样品池，其特征在于，所述第一纳米阵列和所述贵金属纳米颗粒的材料为金或银。

10.一种拉曼光谱探测装置，其特征在于，所述装置包括权利要求1-9中任一所述样品池、激光器、光谱仪。