[发明专利]基于透射射线的检测系统、检测方法以及检测装置

权利要求书

1.一种基于透射射线的检测系统，其特征在于，包括：

第一传送机构，用于传送被检对象途经成像检测通道，所述成像检测通道部署有用于产生第一透射射线的第一射线源、以及背散射探测器阵列，所述背散射探测器阵列用于基于所述第一透射射线在所述被检对象形成的背散射射线生成背散射成像数据；

第二传送机构，用于传送所述被检对象途经衍射检测通道，所述衍射检测通道部署有用于产生第二透射射线的第二射线源、以及衍射检测组件，所述衍射检测组件用于基于所述第二透射射线穿透所述被检对象产生的衍射射线生成衍射能量谱数据；

处理器组件，用于：

利用基于所述背散射成像数据生成的背散射图像，筛查所述被检对象中是否包括可疑藏匿封装体；

响应于对所述可疑藏匿封装体的成功筛查，将被所述第一传送机构传送出所述成像检测通道的所述被检对象转移至所述第二传送机构，以促使所述被检对象被所述第二传送机构送达所述衍射检测通道；

基于在所述被检对象位于所述衍射检测通道的期间内生成的所述衍射能量谱数据，确定所述可疑藏匿封装体中是否藏匿有目标物质。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，

所述成像检测通道还部署有透射探测器阵列，所述透射探测器阵列用于基于所述第一透射射线穿透所述被检对象后的透射衰减射线产生透射成像数据；

所述处理器组件被具体配置为：

在基于所述透射成像数据生成的透射图像中，识别所述被检对象中的所述目标物质；

利用所述背散射图像，筛查所述被检对象中除所述目标物质之外的非目标物质是否包括可疑藏匿封装体。

3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，

所述处理器组件被具体配置为：

在所述背散图像中检测用于表征所述可疑藏匿封装体的高亮像素区域，所述高亮像素区域中的各像素的像素值均高于预设像素阈值。

4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，

所述成像检测通道还部署有透射探测器阵列，所述透射探测器阵列用于基于所述第一透射射线穿透所述被检对象后的透射衰减射线产生透射成像数据；

所述处理器组件被具体配置为：

基于对所述背散射图像的尺度转换，生成与基于所述透射成像数据生成的透射图像具有适配尺度的适配背散射图像；

确定所述目标物质在所述透射图像中的目标识别区域，在所述适配背散射图像中位置匹配的像素映射区域，并且将所述适配背散射图像中的所述像素映射区域的像素值置零；

基于对所述适配背散射图像中的非零像素的轮廓检测，得到对所述被检对象的内部物质在所述适配背散射图像中的轮廓位置区域；

基于所述轮廓位置区域，对所述背散射图像进行区域分割；

在所述背散射图像中通过所述区域分割得到的各像素区域中，搜索所述高亮像素区域。

5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，

所述处理器组件进一步用于：

响应于对所述可疑藏匿封装体的成功筛查，以所述可疑藏匿封装体在所述第一传送机构的扫描传送方向上的扫描识别位置为起始位置，对所述可疑藏匿封装体进行位置跟踪，所述位置跟踪与所述第一传送机构的第一传送速率、以及所述第二传送机构的第二传送速率关联；

基于对所述可疑藏匿封装体的位置跟踪结果，确定所述可疑藏匿封装体到达所述衍射检测通道。

6.根据权利要求5所述的检测系统，其特征在于，

所述第二透射射线沿垂直于所述第二传送机构的送检传送方向的线性方向分布；

所述处理器组件被具体配置为：

当所述位置跟踪结果与所述线性覆盖范围位置匹配时，确定所述可疑藏匿封装体到达所述衍射检测通道。