[发明专利]气体分析仪的分析方法、系统及可读存储介质

权利要求书

1.一种气体分析仪的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、分别将标样进样至数台气体分析仪，利用气体分析仪的FID检测器检测得到FID响应幅值时序图，并对所有FID响应幅值时序图进行归一化处理，得到标准化FID响应幅值时序图；其中，标样包括高响应组分和若干目标组分的混合；

S2、将标样进样至目标气体分析仪，得到目标FID响应幅值时序图；

S3、根据初始基线以及高响应组分和目标组分的峰面积作为调节参考量，通过调节FID检测器的放大电路的偏置电压、前级放大电阻、组分拟合修正系数，使目标FID响应幅值时序图与标准化FID响应幅值时序图的初始基线和峰面积匹配。

2.根据权利要求1所述的气体分析仪的分析方法，其特征在于，所述步骤S1中，对所有FID响应幅值时序图进行归一化处理包括初始基线归一化处理和组分峰强度归一化处理。

3.根据权利要求2所述的气体分析仪的分析方法，其特征在于，所述初始基线归一化处理包括：

提取FID响应幅值时序图自起点至第一个组分峰的起始点之间的所有采样点，构成初始基线的数列；

计算初始基线的数列对应的FID响应幅值的中位数；

计算所有FID响应幅值时序图的初始基线的数列对应的FID响应幅值的中位数的平均值；

根据FID响应幅值的中位数的平均值对FID响应幅值时序图的初始基线的数列对应的FID响应幅值进行线性归一化，得到标准化初始基线。

4.根据权利要求3所述的气体分析仪的分析方法，其特征在于，所述组分峰强度归一化处理包括：

分别提取各FID响应幅值时序图对应的多个组分峰，得到各组分峰的峰强度；

计算各FID响应幅值时序图对应同一组分的组分峰的峰强度的中位数和正态偏差；

根据组分峰的峰强度的中位数和正态偏差得到标准化峰强度，并根据标准化峰强度计算得到标准化峰面积；

根据标准化初始基线、标准化峰强度和标准化峰面积构建标准化FID响应幅值时序图。

5.根据权利要求4所述的气体分析仪的分析方法，其特征在于，所述步骤S3，包括：

根据目标FID响应幅值时序图与标准化FID响应幅值时序图的初始基线的数列对应的FID响应幅值的差值，调节偏置电压以使目标FID响应幅值时序图与标准化FID响应幅值时序图的初始基线匹配；

偏置电压ΔV：

；

其中，ε为常数，SNR为放大电路的信噪比，Q为初始基线的采样点的数量，Δy_q为初始基线的第q个采样点对应的FID响应幅值的差值。

6.根据权利要求5所述的气体分析仪的分析方法，其特征在于，所述步骤S3，还包括：

根据目标FID响应幅值时序图与标准化FID响应幅值时序图的高响应组分的峰面积的差值，调节前级放大电阻，以使峰面积的差值在预设偏差范围内；

峰面积由FID检测器的放大电路输出的电压信号转换得到，FID检测器的放大电路输出的电压信号V_out：

；

其中，V_s为FID检测器的输入信号，F和V_b为放大电路对应的常数，μ为前级放大电阻的调节系数。