[发明专利]一种线圈匝数测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310784594.9 申请日: 2023-06-29
公开(公告)号: CN116626407A 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 王忠远;刘占伟;李玉文;张青辉;张凤桐 申请(专利权)人: 内蒙古电子信息职业技术学院;内蒙古呼和浩特市三维自动化技术应用研究所(普通合伙)
主分类号: G01R29/20 分类号: G01R29/20
代理公司: 西安汇恩知识产权代理事务所(普通合伙) 61244 代理人: 张伟花
地址: 010070 内蒙古*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 线圈 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种线圈匝数测量系统,其特征在于,该系统被配置包括:

激励线圈,用于在激磁回路加载激励;

多个标准匝数线圈,提供所需接入的不同标准匝数线圈组合,用于待测线圈匝数测量;

磁臂,所述激励线圈被绕制于所述磁臂上,多个标准匝数线圈被分布于所述磁臂上且位于所述激励线圈外层;所述激励线圈上加载激励时所述磁臂上产生磁通,使标准匝数线圈和待测线圈上分别产生感应电压;

开关,用于多个标准匝数线圈的被接入或被短接,及标准匝数线圈和待测线圈之间的连接;

短接线,用于短接不需要接入的测量回路的标准匝数线圈;

单片机,根据内部存储计算机程序,对接入电压判断,形成第二控制信号,完成待测线圈匝数测量;

多个标准匝数线圈和所述短接线经开关串联,串联后一端接地,另一端接待测线圈,且标准匝数线圈与待测线圈为极性反向连接,待测线圈的另一端接入所述单片机;所述单片机内被存储计算机程序,该程序运行状态下根据输入的电压判断是否需要接入或短接标准匝数线圈,若需要接入或短接,则形成第二控制信号接入需被接入或被短接的标准匝数线圈对应的开关,控制该开关动作使对应的标准匝数线圈被接入、被短接;如不需要,则形成提示数据输出,用于提示标准匝数线圈的匝数与待测线圈的匝数相等,完成测量。

2.根据权利要求1所述的线圈匝数测量系统,其特征在于,单片机内所存储的计算机程序运行状态下还根据接入的电压判断是否需要形成第一控制信号,用于接入连接待测线圈和标准匝数线圈的开关,控制该开关的连接通道使待测线圈和标准匝数线圈为极性反向串联连接。

3.根据权利要求1所述的线圈匝数测试装置,其特征在于,该装置还被配置包括串联于待测线圈和所述单片机之间的放大整形电路、跟随放大电路和隔离电路。

4.根据权利要求1所述的线圈匝数测量系统,其特征在于,所述磁臂包括U型臂和与所述U型臂可拆卸装配的I型活动臂;所述激励线圈被绕制于所述U型臂上,标准匝数线圈装配于所述U型臂上并位于激励线圈外层;标准线圈装配于U型臂上时于U型臂的上、下磁臂的左右两端留有空间,该空间仅绕制有激励线圈。

5.根据权利要求1所述的线圈匝数测量系统,其特征在于,所述标准匝数线圈为线圈包,包括一个或多个线圈,被配置为多个线圈时,多个线圈的匝数相等或不等。

6.根据权利要求1所述的线圈匝数测量系统,其特征在于,所述待测线圈为电力变压器线圈。

7.一种线圈匝数测量方法,其特征在于,该方法采用二进制逐次逼近比较方法实现对待测线圈的匝数进行测量,先搭建以下测量系统:

将激励线圈装配于磁臂上,多个标准匝数线圈和待测线圈分别装配于激励线圈的外层;

通过开关将多个标准匝数线圈和短接线串联于地和待测线圈之间,每个标准匝数线圈两端连接一短接线,开关接通触点的不同实现标准匝数线圈的被接入或被短接;

待测线圈的一端接单片机,单片机机内存储有计算机程序;

测量系统搭建好后未加载激励于激励线圈上时,使标准匝数线圈对应的开关接通,使该开关对应的标准匝数线圈被接入与待测线圈串联;激励加载,待测线圈、标准匝数线圈和单片机形成的回路产生电压接入单片机,单片机内存储的计算机程序运行进行以下步骤:

1)根据接入的电压判断是否需要形成第一控制信号,用于接入连接待测线圈和标准匝数线圈的开关,控制该开关的连接通道使待测线圈和标准匝数线圈为极性反向串联连接;

2)根据接入的电压判断是否需接入或短接标准匝数线圈,如需接入或短接,形成第二控制信号接入用于使标准匝数线圈被接入或被短接的开关,控制该开关动作,使该开关对应的标准匝数线圈被接入或被短接;如不需要,则形成提示数据输出,用于提示标准匝数线圈的匝数与待测线圈的匝数相等,完成测量。

8.根据权利要求7所述的线圈匝数测量方法,其特征在于,待测线圈的一端经放大整形电路、跟随放大电路和隔离电路接单片机。

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