[发明专利]一种漆面厚度计算和基材材质识别方法有效
申请号: | 202310797548.2 | 申请日: | 2023-07-03 |
公开(公告)号: | CN116519747B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 杨军;汤向伟 | 申请(专利权)人: | 深圳宇问测量技术有限公司 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01B7/06 |
代理公司: | 东莞市卓越超群知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44462 | 代理人: | 骆爱文 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 厚度 计算 基材 材质 识别 方法 | ||
1.一种漆面厚度计算和基材材质识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、触发测量:
将设备的探头按压于被测物表面,探头内霍尔传感器的电流和感应电压经MCU的PGA放大后,由MCU的ADC测量,探头内涡流效应传感器的交流电信号,由MCU的计数器测量频率;
S2、厚度校准:
用探头的霍尔传感器测量磁性金属表面不同覆层厚度的信号,得出霍尔感应电压A和经过霍尔元件的电流B,经过温度补偿,得到XF与厚度SF的关系曲线;
用探头的涡流效应传感器测量非磁性金属表面不同覆层厚度的信号,得出涡流线圈交流电频率C和经过霍尔元件的电流D,经过温度补偿,得到XN与厚度SN的关系曲线,将曲线数据存储在设备上;
S3、材质校准:
用设备在合金基材上做材质校准,得到材质特征相关参数XNaf,SFZ0,SNZ0,SFZ1,SNZ1,将各个参数存储在设备上;
S4、计算厚度和材质识别:
将设备的探头按压在被测物表面,触发测量;
霍尔传感器的数据经过温度补偿得到XF,经过加权计算得到厚度SF;
涡流效应传感器的数据经过温度补偿得到XN,经过加权计算得到厚度SN,再通过算法分析出材质;
S5、显示提示和数据输出:
将厚度和材质测量结果显示于设备。
2.根据权利要求1所述的漆面厚度计算和基材材质识别方法,其特征在于,所述步骤S2和步骤S4中,用霍尔传感器测量时,有X=XF,温度补偿公式为:
;其中:E1,E2,E3均为常数;
A和B分别为霍尔传感器测量时,霍尔感应电压和经过霍尔元件的电流,单位分别为毫伏和毫安;
A0f和B0f分别为霍尔传感器工厂校准时,在无涂层的铁基材表面的霍尔感应电压和经过霍尔元件的电流,单位分别为毫伏和毫安。
3.根据权利要求1所述的漆面厚度计算和基材材质识别方法,其特征在于,所述步骤S2和步骤S4中,用涡流效应传感器测量时,有X=XN,温度补偿公式为:
;其中:H1,H2,H3,H4,H5均为常数;
C和D分别为涡流效应传感器测量时,涡流线圈交流电频率和经过霍尔元件的电流,单位分别为赫兹和毫安;
C0f和D0f分别为涡流效应传感器工厂校准时,在无涂层的铝基材表面的涡流线圈交流电频率和经过霍尔元件的电流,单位分别为赫兹和毫安。
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