[发明专利]一种233

权利要求书

1.一种²³³Pa标准γ源在γ能谱仪分析²³⁷Np中的应用，其特征在于，包括：采用相同几何条件测量待测样品和所述²³³Pa标准γ源在86.5keV和311.904keV处的计数，并按照下述方法得到所述待测样品中²³⁷Np的活度；所述²³³Pa标准γ源是由²³⁷Np储备液和闪烁液混合后达到放射性衰变平衡的液闪样品；所述²³⁷Np储备液为²³⁷Np标准溶液或放射性杂质总活度占比0.1%的²³⁷Np溶液；

采用下式计算²³³Pa在86.5keV处计数与311.904keV处计数之比：

；

其中，为γ能谱仪测试²³³Pa标准γ源时测得的86.5keV处的计数，为γ能谱仪测试²³³Pa标准γ源时测得的311.904keV处的计数，为常数，取值为1.99/14.25；

采用下式计算所述²³³Pa标准γ源中²³⁷Np在86.5keV处计数：

；

采用下式计算²³⁷Np在86.5keV处计数效率：

；

其中，为所述²³³Pa标准γ源中²³⁷Np的活度，为测量时间；

采用下式计算所述待测样品中²³⁷Np在86.5keV处计数：

；

其中，为γ能谱仪测试待测样品时测得的86.5keV处的计数，为γ能谱仪测试待测样品时测得的311.904keV处的计数；

采用下式计算所述待测样品中²³⁷Np的活度：

。

2.根据权利要求1所述²³³Pa标准γ源在γ能谱仪分析²³⁷Np中的应用，其特征在于，所述闪烁液包括自制闪烁液或商用闪烁液。

3.根据权利要求1所述²³³Pa标准γ源在γ能谱仪分析²³⁷Np中的应用，其特征在于，所述²³⁷Np储备液与所述闪烁液的体积比为10~100μL:2~20mL。

4.根据权利要求1~3中任一项所述²³³Pa标准γ源在γ能谱仪分析²³⁷Np中的应用，其特征在于，所述²³⁷Np储备液和所述闪烁液在闪烁瓶中混匀后，放置9个月以上，即得所述²³³Pa标准γ源。

5.根据权利要求4所述²³³Pa标准γ源在γ能谱仪分析²³⁷Np中的应用，其特征在于，所述闪烁瓶材质为塑料或玻璃，容积为6~20mL。

6.根据权利要求1所述²³³Pa标准γ源的应用，其特征在于，所述²³³Pa标准γ源对γ能谱仪进行效率刻度，用于校正²³³Pa对²³⁷Np的干扰。

7.根据权利要求6所述²³³Pa标准γ源的应用，其特征在于，采用完全相同的条件测量待测样品和所述²³³Pa标准γ源在86.5keV和311.904keV处的计数。