[实用新型]一种芯片测试用测试座

权利要求书

1.一种芯片测试用测试座，包括主板（1）和测试座（7），其特征在于：所述主板（1）的表面开设有容槽，所述测试座（7）置于容槽中，所述容槽内设置有与测试座（7）底端对接的针脚，所述测试座（7）上转动安装有封盖（9），所述封盖（9）的底端开设有固定槽（15），所述测试座（7）的表面设置有测试区（11），所述测试区（11）与固定槽（15）对应，所述固定槽（15）内卡入有芯片，所述主板（1）的一侧转动安装有总盖（2），所述总盖（2）的中间处开设有透窗（3）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述封盖（9）的中间处为压盖（12），所述固定槽（15）开设在压盖（12）的下方，所述压盖（12）从透窗（3）内穿过。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述压盖（12）的四周为压边（13），所述透窗（3）的四组为扣板（10），所述扣板（10）压在压边（13）的顶端。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述测试区（11）的前后侧分别设置有一条限位条（8），所述固定槽（15）的前后侧分别设置有一条对接槽（16）与限位条（8）对接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述总盖（2）的末端设置有拉杆（5），所述拉杆（5）的两侧分别设置有一个定位槽（4），所述主板（1）末端的两侧分别转动安装有一个固定扭（6），所述固定扭（6）与定位槽（4）对接。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述容槽上设置有两个定位扣（14），所述测试座（7）上开设有与定位扣（14）对接的接口。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试用测试座，其特征在于：所述固定槽（15）的顶端开设有开口，开口处处于测试区（11）的正上方。