[实用新型]芯片检测用输送装置

说明书

本实用新型涉及芯片检测辅助装置的技术领域，特别是涉及芯片检测用输送装置，其提高装置操控便捷性，增加芯片检测效率；包括芯片检测装置、安装基座、移动座、连接柱、传动件、传动曲轴、蜗轮和驱动机构，芯片检测装置安装在安装基座一端，移动座滑动安装在安装基座上，移动座上设置有多组定位孔，连接柱穿过安装基座通槽安装在移动座上，传动件安装在连接柱上，传动件与安装基座空腔壁配合滑动连接，传动曲轴转动安装在安装基座空腔内部，传动件上设置有驱动槽，传动曲轴与传动件驱动槽配合滑动连接，蜗轮同轴安装在传动曲轴上，驱动机构安装在安装基座空腔内部，驱动机构与蜗轮配合连接。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测辅助装置的技术领域，特别是涉及芯片检测用输送装置。

背景技术

随着近代信息化、电子化、智能化的发展，芯片作为现代电子产品、生产设备的核心，其用量逐年上涨，且随着生产生活的需要，对芯片自身的性能要求也不断提高，因此芯片是现代行业不可或缺的重要部件。

目前在芯片生产环节中，为了确保芯片不受到外界干扰而出现故障，往往会对芯片本身进行封装，将关键部件包裹只留下引脚在外部，而为了确保芯片封装有效，则需要对芯片进行外表面检测，以确保质量，如专利202220169793.X中的一种芯片表面缺陷检测装置其对芯片检测时，需要对芯片进行手动拆装后再进行防护盖扣装，操作过程复杂，本专利提供一种芯片检测用输送装置，放置板放置后自动送至检测区。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种提高装置操控便捷性，增加芯片检测效率的芯片检测用输送装置。

本实用新型的芯片检测用输送装置，包括芯片检测装置、安装基座、移动座、连接柱、传动件、传动曲轴、蜗轮和驱动机构，芯片检测装置安装在安装基座一端，移动座滑动安装在安装基座上，移动座上设置有多组定位孔，连接柱穿过安装基座通槽安装在移动座上，传动件安装在连接柱上，传动件与安装基座空腔壁配合滑动连接，传动曲轴转动安装在安装基座空腔内部，传动件上设置有驱动槽，传动曲轴与传动件驱动槽配合滑动连接，蜗轮同轴安装在传动曲轴上，驱动机构安装在安装基座空腔内部，驱动机构与蜗轮配合连接。

本实用新型的芯片检测用输送装置，驱动机构包括安装座、传动轴、第一扇形齿轮、第二扇形齿轮、连接机构、动力机构和传动机构，安装座安装在安装基座空腔内部，两组传动轴配合转动安装在安装座上，第一扇形齿轮同轴安装在一组传动轴上，第二扇形齿轮同轴安装在另一组传动轴上，连接机构分别与两组传动轴配合连接，动力机构安装在安装基座上并与一组传动轴传动连接，传动机构安装在安装基座空腔内部，传动机构分别与蜗轮、第二扇形齿轮和链轮传动连接。

本实用新型的芯片检测用输送装置，连接机构包括链轮和链条，两组链轮分别同轴安装在两组传动轴上，链条分别与两组链轮啮合传动连接。

本实用新型的芯片检测用输送装置，传动机构包括固定座、支撑轴、传动齿轮和蜗杆，固定座安装在安装基座空腔内部，支撑轴转动安装在固定座上，传动齿轮同轴安装在支撑轴上，传动齿轮分别与第一扇形齿轮和第二扇形齿轮啮合传动连接，蜗杆同轴安装在支撑轴上，蜗杆与蜗轮啮合传动连接。

本实用新型的芯片检测用输送装置，动力机构包括电机座和伺服电机，电机座安装在安装基座空腔内部，伺服电机安装在电机座上，伺服电机输出端与一组传动轴啮合连接。

本实用新型的芯片检测用输送装置，还包括第一扇形齿轮和第二扇形齿轮半径比为2：1，同时第一扇形齿轮与传动齿轮单次啮合和第二扇形齿轮与传动齿轮单次啮合支撑轴转动角度相同，第二扇形齿轮与传动齿轮单次啮合和第一扇形齿轮与传动齿轮单次啮合带动蜗杆转动与蜗轮啮合传动曲轴转动角度为180°。

本实用新型的芯片检测用输送装置，还包括传动件驱动槽由直槽和半圆弧槽组成，传动件半圆弧槽半径与传动曲轴转动半径相同。

本实用新型的芯片检测用输送装置，还包括调节支脚，多组调节支脚配合安装在安装基座上。