[其他]开环(或半闭环)系统精度校正装置在审
| 申请号： | 85100125 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100125A | 公开（公告）日： | 1986-07-30 |
| 发明（设计）人： | 韩至骏;梅建南 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G05D3/18 | 分类号： | G05D3/18 |
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 付尚新 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 开环 闭环 系统 精度 校正 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种开环(或半闭环)系统精度校正装置，由实际位移量测环节，误差模拟环节、校正脉冲产生环节、误差比较环节、以及校正环节所组成。其特征在于：
(1)带有不依赖原系统的简单方向控制电路的模拟环节[Ⅰ]。
(2)保证步进电机在高速运行时进行动态精度校正而不丢步的校正脉冲延时计数器[Ⅴ]。
(3)由进给指令自动产生校正脉冲的补扣环节[Ⅲ]代替了一般校正脉冲产生环节和专设的校正环节。
2、根据权利要求1所述的装置，其特征是模拟环节〔1〕中的校正环节〔6〕经过根据原系统的动态特性而选择的R、C参数R为200KΩ，C为0.01μf，可以实现原系统动态特性的近似模拟。
3、根据权利要求1所述的装置，其特征是校正脉冲延时计数器〔Ⅴ〕中计数器〔12〕的容量应大于步进电机脉冲分配器的半周期其容量为6～10。
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