[其他]大同视场下的物像比对仪制造法

说明书

本发明是一种简单光学仪器的制造法，旨在实现大视场下的同一视场中进行实物与实物或实物与物相、实物与物迹等的比对检验，达到既能定性又能定量地鉴别同异、真伪之目的，而且简便、准确、迅速。

本发明所谓的大、同视场是指大于两人眼中心距离以上的同一视场范围。

本发明是针对目前的刑事技术检验工作，在足迹的检验、指纹的检验、文物珍品、票证印鉴等的检验上，所用手段、设备存在不齐、不便、不准等缺点，利用平面镜和析光镜的几何光学特性，在作简单组合匹配后即可用作比对研制而成。

目前国内制造或引进的各种用作比对的设备及仪器，没有利用平面镜和析光镜组，且多是结构复杂、成本昂贵、视场狭小和范围有限，检验工作具有一定的局限性，并检验人员因受检验条件的限制，常感体力不济，效率不高，强度较大，周期沉长，检验质量和准确性也由于主观和客观上的许多问题往往难以保证，特别是对于某些残缺、破损、零碎的物、相或痕迹，要想做到和原物件的准确比对，更感困难很多。本发明基于上述考虑，利用了取镜容易用量最少的一个普通平面镜和析光镜，以一定距离平行组合，构成一个有反射有透射的联合物像比较系统，配以标尺、刻度和照明、调节等装置，可以实现在大视场下的同一视场中，对要比对的两个物或物与相、物与痕迹，作比较、接合、重叠和整体、局部的比对测量，既能定性又能定量，提高了比对质量和准确性，同时减轻了工作人员的劳动强度，提高了工作效率。

本发明实现物像在同一视场下的比较。接合、重叠等比对的光路系统原理如图所示。图中P₁为平面镜，P₂为析光镜，两镜平行放置，并与假想基准铅垂面MM′单侧接交，且夹角均为45°。A、B代表两个比对实物，分别与所对镜平面成45°角作反射和透射。平面镜P₁将实物A的反射光线均匀反射到析光镜P₁上后，析光镜P₂又对实物A的虚像A′作二次反射，其光路为aa₁a₂a₃。A″为实物A的二次虚像，其大小、方位和实物A完成相同。若将实物B放到虚像A″的位置附近，由于实物B的反射光线在透过析光镜后是沿直线b₂b₃且和实物A的二次反射光线a₂a₃平行并进，因而调节实物B和虚像A″的相对位置，可以实现对透过析光镜P₂的实物B的实像与经析光镜P₂反射的实物A的二次虚像A″进行同位置并立比较、特征重叠、线条接合等比对检验。

本发明的结构特点是平面镜、析光镜制造容易、用量最少、组合简单、视场扩大，可做到在大视场下的同大比对观察。

本发明所述平面镜为真空镀金属膜（银、铬等）、膜层氧化的外反射平面玻璃镜，也可用普通水银平面镜或其它金属抛光型平面镜。为提高反射精度，要求镀膜均匀，反射面光滑平整，反射物相不变形。其镜面规格视需要而定，如用于足迹比对，则线径应不小于最大人鞋底的尺度，形状可为方形、园形或长方形。

本发明所述析光镜，应具有半反射半透射光线的特性，反射透射光之比最好为1∶1。反射由平板玻璃单侧镀金属薄膜来实现，透射由薄膜层稀、薄，不使镜对方的物、相反射光全遮挡来实现。除上平板玻璃型析光镜外，也可采用能达同样析光效果的其它类析光镜，规格大小应与反射镜匹配。为了提高析光精度，要求析光镜两面平整，镜质均匀，越薄越好。

本发明所述的光路系统，其两镜面平行组合误差，按正常人的视觉鉴别率为60″（在明视距离为250mm，光线充足条件下可区别0.08mm距离的两点）为标准进行推算，在被鉴别物的最大长度（如脚印）可达270mm时，两镜的不平行度应不大于45′。