[其他]测量高反射率的方法和装置无效
| 申请号： | 85101719 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85101719A | 公开（公告）日： | 1986-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王占青;陈奋飞;周秀良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国科学院长春专利事务所 | 代理人： | 刘树清 |
| 地址： | 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 反射率 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种测量高反射率的方法，是多次反射测量的方法，其特征在于多次反射测量方法采用对谐振腔多次反射结构α。
2、按权利要求1所述的测量高反射率的方法，其特征在于：将对称谐振腔多次反射结构置于一个可定位转动180°的平面上，反射率是由光电信号E1、E2、E3和E4，通过公式R＝4N
3、一种测量高反射率的装置，包括平面镜和球面镜，其特征在于测量高反射率的装置是由平面反射镜〔5〕、球面反射镜〔4〕以及放置在定位转动180°的园盘〔6〕上的二个相同曲率半径为γ的球面反射镜〔1〕和〔3〕形成的对称谐振腔组成;通过定位转动园盘〔6〕的旋转轴线并与对称谐振腔光轴垂直放置高反射率样品〔2〕。
4、按权利要求3所述的测量高反射率的装置，其特征在于：在定位转动园盘〔6〕上，取直径为L的两端点，相对共轴放置球面反射镜〔1〕和〔3〕，靠球面反射镜中心开有P×q长孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械研究所，未经中国科学院长春光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/85101719/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：染料组成物及其用于热塑性塑料材料染色的方法
- 下一篇：加工管子的装置
