[发明专利]光信息再现设备

说明书

本发明涉及一种光信息再现设备，用于重现记录在圆盘形记录载体（例如，光学录象圆盘）上的信息，特别是装有用于探测回转圆盘（例如，光学录象圆盘等）歪斜角的歪斜误差探测电路的一种光信息再现设备。

通常，在光盘再现设备中，用物镜将激光束聚焦在光盘的记录面上，以便重现记录在光盘上的信息。在这种情况下，它的分辨能力由激光光束会聚的大小来确定;或者说由光点的直径来确定，使得光点的直径的最大值不超过某一个值。光点的直径由激光光源发出的激光波长以及物镜的焦距和其直径之比值来确定〔该比值通常用NA（数值孔径）值表示〕。

此外，在现有技术中，光源是采用氦氖激光器。使用氦氖激光器作光源的这种再现装置体积大而且价格昂贵。因此，目前有一种趋势使用半导体激光器作光源，这是因为半导体激光器价格便宜，而且可以使设备造得小巧。

然而，半导体激光的波长是780毫微米（nm），它比氦氖激光器的激光波长623.8毫微米（nm）要长。由于这个原因，为确定半导体激光的光点直径，使半导体激光能提供同使用氦氖激光器作光源一样的分辨能力，必须提高 物镜的数值孔径（NA）值。例如，NA值取大约0.5。

但是，如果物镜的数值孔径按上面所说的值提高，当激光光束的光轴与圆盘的记录面不垂直时，在该圆盘上来自相邻的光迹产生的串扰分量将造成一严重问题。

如同在图1A中所示，当激光光束的光轴2垂直于圆盘1的记录面时，在其光接收部件中探测到的输出D成为在图1A中显示的那样，来自相邻光迹T₁和T₂的串扰分量输出相对于来自主光迹T₀的输出来说是足够小。可是，如同在图1B中所示，当激光光束的光轴与该圆盘1的记录面不垂直时（这种情况在下文中将称之为圆盘1的歪斜），相邻光迹T₁和T₂的串扰分量不同，在这种情况下，在被探测到的输出D中，光迹T₁的串扰分量将变大。

在NA值变大时，串扰电平Lc则不能忽略，从下面的公式中可以清楚地看出，

LoαWcmα (NA³)/(λ) ·α

其中Wcm是彗形象差;

λ    是激光波长;

α    是圆盘在其径向上的倾角。

例如，在下列条件下：λ＝780毫微米（nm）、光迹间距＝1.67微米（μm）、NA＝0.5，为使串扰电平Lc＝-40分贝（dB），则要求圆盘倾角α≤0.5°。

激光光束的光轴与圆盘记录面不垂直可能是由于回转该圆盘的心轴的倾斜或者弯曲、该圆盘转台的倾斜或者弯曲、或者该圆盘本身的歪斜等原因造成的。圆盘本身的歪斜被认为是主要的原因。目前，圆盘在其径向上的斜角α公知是1°≤α≤2°。由于这个原因，当使用半导体 激光器作为光源时，必须探测圆盘在其径向上的歪斜（包括除圆盘本身歪斜之外的其他倾斜），并克服串扰分量的增加。歪斜这个术语在下文中都具有同样的含意。

下面将描述一种歪斜误差探测装置的实例。

图2示意说明这种歪斜误差探测装置的实例，其中歪斜误差探测装置5与光学摄取装置的光源彼此独立的。在图2中看到的歪斜误差探测装置是沿着圆盘1的径向上安置的;在图3中看到的探测装置是垂直于该圆盘1的径向上的（图2和图3分别图示在相互垂直的截面上的探测装置5，以便于说明和解释）;而在图4中看到的是从圆盘1的上表面向下看到的探测装置5（圆盘1未画出）。

探测装置5的光源使用漫散射光源，在图2至图5中各实例，采用二极管9作光源，光线在二极管的发光表面上被漫散射。

由发光二极管9发出的光由圆盘1反射，经透镜11，由光电探测器10接收。该光电探测器10是一种由两块光电探测区组成的双光电探测器。

该发光二极管9、光电探测器10和透镜11都装在圆筒形的外壳12上。如图2所示，该透镜11安装在外壳12的一个开口端上，而发光二极管9和光电探测器10都安装在外壳12的另一开口端，处在透镜11的焦平面位置上，这样它们分别置于透镜11的光轴11A左右两侧面上。

该外壳12是这样安置的，如在图2至图4所示，透镜11靠近圆盘1，而发光二极管9和双光电探测器10在被探测的圆盘1的歪斜误差方向的垂线上排成一条线。