[其他]妊娠检验器无效
申请号: | 85104391 | 申请日: | 1985-06-10 |
公开(公告)号: | CN85104391A | 公开(公告)日: | 1986-12-10 |
发明(设计)人: | 佐久田博司;木村武 | 申请(专利权)人: | 佐久田博司;木村武;山谷信行 |
主分类号: | G06C3/00 | 分类号: | G06C3/00;A61B10/00 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 李先春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 妊娠 检验 | ||
1、一用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路。其特征包括以下步骤:
存储过去至少六次月经期(排卵期)的基本数据;
存储所说月经中不正常月经期或偏差时间;
用百分数(%)显示受孕可能性以及用曲线根据所存数据显示可能受孕的时期。
2、如权项1中所述的用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路,其进一步特征包括以下步骤:
将每次月经期的开始日期重复输入;
当输入最近月经日期时消去最早的输入数据;
由半导体电路中的RAM(随机存取存储器)存储的已有的有效数据计算下次月经开始日;
同时,通过相反的算式运算计算自下一月经开始日起任一日的受孕可能性,并自动显示出。
3、如权项1所述的用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路,其中所用的源程序见表1。
4、权项1所要求的半导体电路中,其中硬件系统具有可提供日历系统的LSI(大规模集成电路)、ROM(只读存储器)和RAM(随机存取存储器),并构成如下功能:
a.建立判断受孕的记录日期系统;
b.输入各个数据;
c.显示各个数据;
d.消去最早数据;
e.显示下次月经开始日;
f.回到日期记录时;
g.显示受孕可能性。
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