[其他]妊娠检验器无效

专利信息
申请号: 85104391 申请日: 1985-06-10
公开(公告)号: CN85104391A 公开(公告)日: 1986-12-10
发明(设计)人: 佐久田博司;木村武 申请(专利权)人: 佐久田博司;木村武;山谷信行
主分类号: G06C3/00 分类号: G06C3/00;A61B10/00
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 李先春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 妊娠 检验
【权利要求书】:

1、一用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路。其特征包括以下步骤:

存储过去至少六次月经期(排卵期)的基本数据;

存储所说月经中不正常月经期或偏差时间;

用百分数(%)显示受孕可能性以及用曲线根据所存数据显示可能受孕的时期。

2、如权项1中所述的用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路,其进一步特征包括以下步骤:

将每次月经期的开始日期重复输入;

当输入最近月经日期时消去最早的输入数据;

由半导体电路中的RAM(随机存取存储器)存储的已有的有效数据计算下次月经开始日;

同时,通过相反的算式运算计算自下一月经开始日起任一日的受孕可能性,并自动显示出。

3、如权项1所述的用于确定、显示和存储受孕日期的半导体电路,其中所用的源程序见表1。

4、权项1所要求的半导体电路中,其中硬件系统具有可提供日历系统的LSI(大规模集成电路)、ROM(只读存储器)和RAM(随机存取存储器),并构成如下功能:

a.建立判断受孕的记录日期系统;

b.输入各个数据;

c.显示各个数据;

d.消去最早数据;

e.显示下次月经开始日;

f.回到日期记录时;

g.显示受孕可能性。

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