[其他]感光红外线的照相材料

说明书

本发明涉及对从750纳米和750纳米以上，特别是750至1500纳米近红外光谱区发射的光线感光的照像材料，特别涉及适宜于为激光二极管扫描系统提供高质量记录介质的照像材料。

通过把可见影像的邻近小范围亮度编码使可见影像转换成电子数据，是一种广泛使用的影像处理技术。这种电子编码，对影像的控制、传送和贮存是有利的。已知通过所谓“扫描系统”使电子数据重新转换成可见影像，利用该扫描系统，使一束精细聚焦的光束，以一连串邻接的光栅行扫描穿过感光介质，同时根据电子信号调节光线强度使再现需要的影像密度。

激光器，特别是那些使用氩、氪、氦-氖或氦-镉混合物作为气体激光介质的激光器已被用作这一影像处理技术的高强度光源。然而，所有这些激光器都具有需要一种附加的，复合装置以调节发射光线强度的缺陷，并在很大程度或较小程度上，因大的物理体积，机械脆性和高的生产费用而受到限制。

半导体激光二极管可能高度地适合于作为扫描系统的光源，因为它们的光线输出可以通过电信号输入直接调节，并且它们非常小巧和物理上耐用。

然而，目前唯一具有满意的长操作寿命，并能廉价生产大批供应的激光二极管装置是那些发射从750至1500纳米近红外（NIR）光谱区的激光二极管。因此，为了使用供影像显影的激光二极管扫描系统，需要提供一种对近红外线（NIR）范围光线感光的记录介质。

使用长链花青染料使照像卤化银乳剂对近红外线感光是已知的，例如，见Mees和James著的照像显影理论，1966，MacMil-lan第三版198-201页和本文引证的参考文献。

已发现，对近红外线感光的胶片，特别是那些卤化银颗粒平均直径小于0.4微米的胶片，当在一个没有玻璃的底板中被边缘所支承，以防止与其它表面接触，并在820纳米处由一激光二极管扫描系统发射给予均匀的总曝光时，得到覆盖有宽的旋涡干涉图样的影像，该干涉图样本文在以后叫作“无触点的扫描条纹”。这些条纹被认为是由于来自胶片材料与周围空气两个界面曝光光线的反射所产生的。由胶片上表面和底表面来的反射光线之间的程差，受到在给定位置胶片厚度的支配，同时纯相差既不造成有害的也不造成积极的影响，既不减少也不增加在该给定位置传送到感光乳剂层的曝光量。从而条纹按照胶片材料本身的极细微厚度变化的轮廓，并通常以1毫米的间隔，长度常为几厘米宽的行覆盖全部影像区。

无触点干涉条纹在有关卤化银乳剂材料的文献中，以前尚未报道过。这一现象在用可见光曝光的常规条件下是不会发生的，因为感光乳剂层的浊度足以使由胶片材料背后来的反射光散射掉。可见，红外光线由于其较长的波长，能够通过小颗粒照像乳剂而不发生严重的散射，并且激光二极管输出的光线的相干性加强了形成干涉图样的倾向。因此，卤化银颗粒平均直径为0.28微米，银涂层重3克/米²的照像乳剂显示出可检测到的干涉条纹。使粒度减小到0.23微米或减少涂层重量产生更为显著的图样，而平均颗粒直径为0.20微米或更小的乳剂，在无触点激光二极管扫描以后，显示出严重的干涉条纹。

无触点扫描干涉条纹严重地降低了扫描影像的质量，特别是那些具有连续影调层次的扫描影像的质量。它们不仅在美学上使人讨厌，而且使在影像中由小的密度差传送的重要情报模糊不清。能够使用平均直径小于0.4微米，最好小于0.3微米颗粒的照像乳剂是合于要求的。颗粒0.4微米或小于0.4微米的细颗粒乳剂，在容许高空间分辨率，并且有高遮盖率，容许较低的银涂层重量以得到给定的最大光学密度和显影方面是有利的。因此，供激光二极管扫描系统使用的照像材料必须能够消除无触点干涉条纹。

干涉条纹的现象在光学记录系统中不是公知的。当使发光表面的照像胶片与其它发光表面，例如玻璃片基，光点屏或接触印像底片接触曝光时，一个共同的问题是在显影的影像中发生通称为“牛顿环”的紧密间隔的同心条纹图样（见物理百科词典，J、Thewlis，Ed，pergaman，伦敦，1961，P，878）。这些干涉条纹是由于从胶片上表面和接触片基的底表面来的反射光之间的光学干涉产生的;局部空气间隙的大小决定了这两个位置光线之间的程差，并从而决定了它们的相位差是否导致亮或暗的干涉条纹，造成增加或减少传送到乳剂层的曝光量。牛顿环趋于形成分隔的图样区域，该区域在曝光期间由接触位置同心地扩散，该区域具有窄小的条纹间隔，该间隔向每个图样的边缘逐渐变得更小。这些区域在外观上与宽的旋涡无触点扫描干涉条纹相当的不同，这些干涉条纹以通常约1毫米间距和常为几厘米长度的宽行覆盖整个影像区。