[发明专利]硬币识别装置无效
申请号: | 85107241.0 | 申请日: | 1985-09-28 |
公开(公告)号: | CN1006584B | 公开(公告)日: | 1990-01-24 |
发明(设计)人: | 间所幸夫;垣见茂;植木徹;宫内哲;大东亚夫;黑畑一志 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G07F3/02 | 分类号: | G07F3/02 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 匡少波 |
地址: | 日本国大阪府*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硬币 识别 装置 | ||
1、一种硬币识别装置包括:
一硬币通道,沿该通道硬币可进入;
至少两个硬币探测器,该两硬币探测器沿所述通道上放置,并且其阻抗可随硬币沿通道通过而变化;
一检测电路装置,用以检测所述硬币探测器的阻抗变化;和
一判别电路装置,连接到所述检测电路装置,用以根据检测到的所述硬币探测器的阻抗、来判定硬币的特性;其特征在于:
上述两个硬币探测器中的每一个都包括两个相对放置在所述通道上的线圈;所述两个硬币探测器中的一个具有两个同相串联连接的线圈,主要用来判定硬币材料;另一个硬币探测器具有两个反相串联连接的线圈,主要用于判定硬币的厚度;所述两个硬币探测器是串联连接的,沿所述硬币通道所述的两硬币探测器之间有一限定的空间,主要用来判定硬币直径,所述空间应比所选择的硬币中最小的硬币的直径要小。
2、根据权利要求1的装置,其特征在于:
所述数据检测和存储装置检测和存储-电压电平及其在一峰点或底点的产生时间的数据,和另一电压电平及其在另一峰点或底点的产生时间的数据;所述电压电平比较装置包括用于将对上述一个和另一个电压电平的相对比率或相对差与一选择的硬币的相应参考电平进行比较的第一比较装置,和用于将所述一个和另一个电压电平间隔周期比率和该选择的硬币参考比率进行比较的第二比较装置;所述判定装置还包括用于根据所述第一和第二比较装置的至少一个比较结果来判定伪币的除直径,材料和厚度以外的其它特征的装置。
3、一硬币识别装置包括:
一硬币通道,沿该通道硬币可进入;
多个检测线圈,诸线圈都沿所述通道放置,并且其阻抗可随硬币沿通道通过而变化;
一检测电路装置,用以检测所述检测线圈的阻抗的变化;和
一判定电路装置,连接至所述检测电路装置,用于检测和存储所述检测线圈的阻抗变化的峰点和底点数据,并用于将存储的该峰点和底点数据与为要选择的真实硬币而预定相应参照值进行比较,然后根据所比较的结果来判定通过通道的硬币的材料、厚度和直径;其特征在于:
其中多个检测线圈包括至少两组检测线圈,每一组具有两个相对放置在所述通道上的线圈,以便让硬币从一组的两线圈之间通过;包括上述相对放置的线圈的所有检测线圈串联相连,并连接到所述检测电路装置;检测线圈的一组具有两个同相串联的线圈,主要用于判定硬币材料,另一组检测线圈具有两个反相串联的线圈,主要用以判定硬币的厚度;所述一组和另一组检测线圈之间在硬币通路上有一间距空间,该间距主要用来判定硬币直径,它比要选择的真实硬币的最小一种的直径要小。
4、根据权利要求3的装置,其特征在于:所述判定电路装置进一步包括:
用于检测和存储所述检测线圈的阻抗变化的峰点和底点的产生时间的数据的装置,用来检测和存储峰点-峰点和底点-底点的周期;
第一比较装置,用于将一峰点或底点和另一峰点或底点的相对比率或相对差与为真实硬币而预定的相应参照值进行比较;
第二比较装置,用于将所述周期比率和为真实硬币而预定的参照比率进行比较;和
用于根据所述第一和第二比较装置的比较结果来判定硬币的除直径,材料和厚度以外的特性。
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