[其他]光学物性测定装置无效
申请号: | 85200312 | 申请日: | 1985-04-01 |
公开(公告)号: | CN85200312U | 公开(公告)日: | 1986-02-19 |
发明(设计)人: | 张治国;俞祖和;朱化南;韩权生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 中国科学院物理研究所专利办公室 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 北京市6*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 物性 测定 装置 | ||
1、一种由样品室[4]及固体样品室的定位装置[20]、光电检测器[12]、数据显示系统[13]所组成的光学物性测定装置,其特征在于:由凹面镜[1]和[2]安装在样品室[4]的一端,凹面镜[3]安装在样品室[4]另一端,凹面镜[1]、[2]经调整机构[5]与凹面镜[3]调成共焦结构,样品室[4]为一个可拆卸的封闭容器,是“通用型”或者是“放电激发型”的样品室。
2、一种按权利要求1所述的光学物性测定装置,其特征在于:压力艙〔8〕是不锈钢,或者是其它金属,艙的两端可以拆卸,压力艙上装有热交换器〔15〕。
3、一种按权利要求1、2所述的光学物性测定装置,其特征在于:凹面镜〔1〕、〔2〕、〔3〕镀以反射率在90%以上的宽带反射膜。
4、一种按权利要求3所述的光学物性测定装置,其特征在于:样品室〔4〕安放在定位槽〔20〕上,样品室〔4〕与定位槽〔20〕滑动连接。样品室〔4〕侧壁连有一极板〔16〕磁场线圈〔17〕在样品室〔4〕与极板〔16〕之间。
5、一种按权利要求4所述的光学物性测定装置,其特征在于:外接控制显示机箱〔19〕,它包括控制步进马达手控/程控按键〔18〕、光电检测器〔12〕、数据显示装置〔13〕,显示机箱内设控制电路连一微处理机、A/D变换电路、接口电路和存贮器构成。
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