[其他]综合老化台

说明书

本实用新型属于电子元器件的老化设备。

随着电子技术的迅速发展，电子设备已经广泛用于科学技术的各个领域。对电子产品的可靠性也日益重视。因此对电子元器件的可靠性提出了更高的要求。在电子元器件（包括电阻、电容、二极管、晶体管、集成电路等）的出厂前以及用户使用前都要将这些元器件进行老化筛选，用以剔除早期失效和稳定性差的那部分元件，从而保证其使用的可靠性。目前大多数单位采用的是品种单一的老化设备。用户面对众多的电子元器件就需购买多台老化设备。而且有些电子元器件的老化台还没有成品供应。在现有的多品种的综合老化台中，以航天部重庆巴山仪器厂生产的7913系列综合老化台为先进，但是该老化台对集成电路仍然不能老化，此外还存在老化箱和老化板之间采用固定搭配。老化夹具固定，一次只能老化一个品种（二端器件或者晶体管）。以及扩展老化困难等缺点。即使对于专用的集成电路老化设备，也不能同时兼顾到老化各类集成电路（包括数字集成电路、模拟集成电路和其他类型集成电路）对特殊、非标准的集成电路老化就更为困难。

本实用新型的目的在于制造出一种新型的综合老化台。可同时兼容老化二端器件、晶体管和集成电路三种类型的元器件。对老化中的元器件还可随机检测。

本实用新型的特点在于：

1.采用积木组合结构。老化板与老化箱之间采用“活板”结构组合。即采用接插形式。对于各功能箱（包括控制箱（1）、电源箱（5）、高温箱（6）二端器件老化箱（3）、晶体管老化箱（2）集成电路老化箱（4））与机柜的组合采用抽屉式积木结构。各功能箱可以根据需要自由组合。以便增减某一品种的老化数量和扩展老化品种（特殊的、非标准的和新的品种）。

2.为解决不同类型集成电路的老化兼容问题。采用了“条件板”方式，即对于某一品种的集成电路老化，每块被老化集成电路旁边配有一块专用条件板，与被老化集成电路一一对应，并分插在完全并联的双列插座上，条件板用接插件与老化板组合。如要更换老化的集成电路品种，只需更换相应的条件板。

3.集成电路的参数测试相当复杂。在老化箱内的集成电路品种各异，其测试就更为困难。本实用新型采用测量集成电路输出波形和测量工作电流相结合的方法，来分析集成电路在老化中的情况。其构成是将被测电路与条件板上的元器件构成完整的电路。定时测试整体工作电流。并以工作电流的稳定情况来判断分析集成电路质量。本实用新型还设置了信号源和示波器，用以检查集成电路输出波形是否符合要求，借以剔除失效的器件。

本实用新型的综合老化台，既可用作老化，又可作为高温测试筛选元器件的设备，还可进行质量分析，做寿命试验。每次老化既可以单一品种，又可以同时老化多个品种。本实用新型采用连续方式工作，装有定时、报警、高温测试、高温控制和过压保护等装置，可同时老化功率小于1瓦的晶体管200只，老化电流小于1A的二端器件（电阻、电容、二极管、稳压管）200只，接脚不大于18脚（也可以扩展到40脚）的集成电路100只。这样为科研单位、大专院校及小批量生产电子设备的工厂和其它需要老化电子元器件和寿命试验的单位提供了经济合理的老化设备。

图1a为本实用新型的实物照片。

图1b为本实用新型的老化板实物照片。

图2为本实用新型的组合示意图。

图3为本实用新型的集成电路测试原理图。

图4为本实用新型的集成电路老化插座接线图。

图5为本实用新型的方框示意图。

实施例：