[其他]高低温介电性能和电阻率测量用电极装置无效
申请号: | 85203393 | 申请日: | 1985-08-16 |
公开(公告)号: | CN85203393U | 公开(公告)日: | 1986-05-07 |
发明(设计)人: | 刘尚琪;张贤;徐懋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01R1/06 | 分类号: | G01R1/06 |
代理公司: | 中国科学院专利事务所 | 代理人: | 许淑芳 |
地址: | 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 低温 性能 电阻率 测量 用电 装置 | ||
1、一种高低温介电性能和电阻率测量用的电极装置,具有密闭式的试样套筒结构(图1),其特征在于采用了金属的电极线引出器,该引出器是由紧接试样室(1)的传热较慢的细管状热阻段(2)和装有电极装置出线端(4)的具有较大热容量及良好传热性的散热器形端块(3)构成。
2、按权利要求1的电极装置,其特征是电极线引出器的金属材料可以是碳钢或不锈钢或铝或黄铜或德银合金或其它常见的金属材料。
3、按权利要求1的电极装置,其特征是其中电极线引出器的热阻段(2)可以是一根或数根相同或不相同直径的管子组成,管子的直径和长度可分别在3-30毫米和5-300毫米之间变动。
4、按权利要求1的电极装置,其特征在于其散热器形端块(3)可以用与热阻段相同或不相同的金属材料制成,端块可采用圆盘形或其它形状的散热器结构,圆盘形端块的直径和高度可分别在30-200毫米和10-80毫米之间变动。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院化学研究所,未经中国科学院化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/85203393/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:焊接物件时用于固定电器或电子部件的设备
- 下一篇:按键式灯泡延寿节能开关