[其他]双踪光点校表仪无效
申请号: | 85205281 | 申请日: | 1985-11-26 |
公开(公告)号: | CN85205281U | 公开(公告)日: | 1987-01-28 |
发明(设计)人: | 邱传训 | 申请(专利权)人: | 邱传训 |
主分类号: | G04D7/00 | 分类号: | G04D7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 上海市虹口*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双踪光点校表仪 | ||
1、一种以光点位移方式校表的仪器,具有时基和表摆信号2个电路通道以及配有与之适应的比对和显示部件,其特征在于:
a、应用权码锁存/译码驱动器(4)和(5)构成2个比对部件。
b、各比对部件的2个方面入端,分别接表摆信号电路通道和时基信号电路通道的终端。
c、各比对部件的出端,分别接LED灯列(6)和(7)。
2、根据权利要求1所述的校表仪,每个权码锁存/译码驱动器(4)或(5)是由集成电路D触发器群和译码器组合的部件。
3、根据权利要求书1所述的校表仪,表摆信号电路的终端是应用集成电路D触发器的奇、偶次分离电路(11)。
4、根据权利要求1所述的校表仪,时基电路通道的终端是一个应用集成电路计数器的数字扫描器。
5、根据权利要求1所述的校表仪,2组LED灯列(6)和(7),按序对位平行安装 于仪器面板的窗口。
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