[其他]双踪光点校表仪无效

专利信息
申请号: 85205281 申请日: 1985-11-26
公开(公告)号: CN85205281U 公开(公告)日: 1987-01-28
发明(设计)人: 邱传训 申请(专利权)人: 邱传训
主分类号: G04D7/00 分类号: G04D7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 上海市虹口*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 双踪光点校表仪
【权利要求书】:

1、一种以光点位移方式校表的仪器,具有时基和表摆信号2个电路通道以及配有与之适应的比对和显示部件,其特征在于:

a、应用权码锁存/译码驱动器(4)和(5)构成2个比对部件。

b、各比对部件的2个方面入端,分别接表摆信号电路通道和时基信号电路通道的终端。

c、各比对部件的出端,分别接LED灯列(6)和(7)。

2、根据权利要求1所述的校表仪,每个权码锁存/译码驱动器(4)或(5)是由集成电路D触发器群和译码器组合的部件。

3、根据权利要求书1所述的校表仪,表摆信号电路的终端是应用集成电路D触发器的奇、偶次分离电路(11)。

4、根据权利要求1所述的校表仪,时基电路通道的终端是一个应用集成电路计数器的数字扫描器。

5、根据权利要求1所述的校表仪,2组LED灯列(6)和(7),按序对位平行安装  于仪器面板的窗口。

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