[其他]一种清纱器及纱疵仪的设计方法无效

专利信息
申请号: 86100541 申请日: 1986-03-05
公开(公告)号: CN86100541A 公开(公告)日: 1988-02-17
发明(设计)人: 成春生 申请(专利权)人: 成春生
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;D01H13/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 江苏省丹*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 清纱器 纱疵仪 设计 方法
【权利要求书】:

1、一种电子清纱器及纱疵分级仪的设计方法,其特征是:无论是采用光电式还是电容式检测手段,各锭的检测放大单元,把通过检测头的试样纱条在长度方向各点的粗度S或纱疵增值粗度△S转换放大成最终电信号V,使V满足表达式V=K·S或V=K·△S,式中K为某锭的纱条长度方向各点的S或△S转换放大成最终电信号V的系数,用来表征该锭检测放大单元在某一时刻的灵敏度,允许各锭的K值互不相等,允许某一锭的K值在长期运行中发生变异,K值的变化范围以最终电信号V的幅值满足电路测量为原则,同时各锭独立产生代替全体纱条平均粗度S’的设定电平V1,使V1=K·S’,参照国家标准或工艺要求,以及选择的电路程式使V满足的表达式,恰当选择增益,各锭按照乘法原则以各自的V1为基准,以选择的同样增益建立一个或一组纱疵设定电平,同最终电信号V进行电平比较,完成纱疵粗度的判别或状态描述,同时把纱疵的计算长度(在采用纱疵的粗度和长度乘积超过规定即以切除的程式时)或实际长度(在按照国家标准的纱疵有效长度的规定时)转换成等效长度的脉冲。

2、一种代替全体纱条平均粗度设定电平的方法,其特征是:以连续的足够长度的片段纱条平均粗度S″代替全体纱条平均粗度S′的对应于检测灵敏度K的电平V1作为设定电平,其V1的表达式相应改为V1=K·S″。

3、一种同时满足权利要求1和2的方法,其特征是从各锭的检测放大单元中已经满足表达式V=K·S的最终电信号V中,用积分电路直接分离出V1,此时的V1满足表达式V1=K·S″,S″的片段长度值L由积分电路的时间常数T,纱速V′及系数n而定,其表达式为:L=n·T·V'式中n为2-3。

4、一种光电式电子清纱器,其特征是按照权利要求1、2、3的方法设计,各锭从满足表达式V=K·S的最终电信号V中用时间常数为1秒的积分电路分离出V1作为设定电平,以此为基准,根据工艺要求,通过各锭检测放大单元的波段开关选择相同的增益形成各锭的纱疵设定电平的电路。

5、一种六锭光电式纱疵分级仪,其特征是按照权利1、2和3的方法设计,按照附图的图7,各锭从满足表达式V=K·S的最终电信号V中,用时间常数为1秒的积分电路分离出V1,以此为基准,用精确调整使增益为5的同相放大器将其放大,在输出端用精确调整的电阻或电位器组成电阻网络,从中获得一组符合国家标准纱疵粗度和纱疵长度起始标准的纱疵粗度设定电平,作为各锭的独立纱疵设定电平,同相应各锭的最终电信号V作比较,完成纱疵粗度状态的描述以及纱疵长度的转换的电路,用100KC和10KC频率的时钟脉冲按照附图的图8电路对等效纱疵长度的脉冲进行长度检测,完成纱疵长度描述的电路,按照图15的微机系统和相应的汇编程序清单根据纱疵粗度和长度的描述完成纱疵类别判别的电路和软件。

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