[其他]光电回路无效

专利信息
申请号: 86100687 申请日: 1986-01-23
公开(公告)号: CN86100687A 公开(公告)日: 1986-08-20
发明(设计)人: 安藤敏信;伊佐治光一 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G01D5/32 分类号: G01D5/32
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 吴秉芬,黄向阳
地址: 日本东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光电 回路
【说明书】:

发明涉及一种光电回路,更详细地说,是一种通常所说的光电传感器。它包括一个发光器件和一个光敏器件,以便用光学的方法检测物体。

在此之前,常用各种通常所说的光电传感器来达到用光学方法检测各种卡片或纸张;或者借助一个带有辐射状开缝並牢固地固定在电机转子上的园盘来得到脉冲。

夏普(SHARP)应用手册(1982年1月,光电断续器部份)P.26,图4-7(d)中介绍了一种现今被广泛采用的光电传感器。在该传感器回路中,使电流由电源+VCC通过一电阻R流过一发光二极管,並由电源+VCC通过另一电阻将电压加到一光电晶体管上。当电流流经回路时发光二极管发出光而光电晶体管被接通。当光照射到光电晶体管上时,电流就能够从电源+VCC通过该光电晶体管流动。因该光电晶体管的电流放大倍数很小,所以在光电晶体管的后一级连接一晶体管对其输出进行放大並获得一具有大振幅的波形。但是,由于上述波形包含各种失真成份,而采用-施密特(Schmitt)触发器对经过放大的输出波形作进一步的成形。此外,在该电路结构中,由于包含发光器件的回路与包含光敏二极管的回路相对于电源说来是互相独立的。因此,为了获得输出,连接应由三条线路组成,即电源线,光电晶体管的集电极引线和地线。

最近,电子设备有越来越高功能化的趋势,因此在各种设备中各处加进很多光敏器件。这样一来,由于于对接信号输送线的数目相应增加,而使设备中信号输送线的装配工作变得很困难。

本发明的目的在于提供一种可能减少信号输送线数目的光电回路。

本发明的另一个目的在于提供一种带有放大器的光电回路,该放大器能够随着光敏器件的输出而放大加给发光器件的电流。

本发明的其它目的在于提供一种光电传感器。在该传感器中,由于流经光敏器件的电流反馈到发光器件而增加了流经发光器件的电流,从而增加了发光器件的发光量。

本发明用一光电回路来实现,该回路只有一个发光器件和一个用来接收该发光器件所发出光的光敏器件。通常,发光器件为一发光二极管,而光敏器件是一光电晶体管。-电流控制回路与该发光器件串联,该控制回路随着流经光敏器件的电流大小来控制流过发光器件的电流。这个控制回路最好由一偏流元件和一个用作电流放大器的、与偏流元件并联的晶体管组成。

对于采用上述这样的一种结构,光电回路由二条接线来实现,即一条用来向发光器件供给电能,而另一条是为了从光敏器件接收信号。

而且,流经发光器件的电流通路与流经光敏器件的电流通路通过电流控制回路构成一反馈回路。光敏器件的被输出电流反馈到发光器件一边。这样,流经发光器件的电流经晶体管放大而增加了发光量,这就使得在光敏器件输出级处的电流得到明显的放大,从而不必在输出级处加进放大电路。

图1是一个用来对电机旋转进行检测的机构透视图,是光电传感器的一个应用实例;

图2是按照本发明的一种实例作出的光学检测回路的电路图;

图3是一个用来说明由图2指出的光学检测回路工作形式的时间曲线图;而

图4是根据本发明的另一实例作出的光学检测回路的电路图。

图1指出一种检测电机转数用的机构,它是光电传感器的一个应用例。一个用来检测电机转轴111状态的,带有通光孔121的园盘12被安装在转轴上。为了用光学方法检测园盘12上通光孔的位置,配置了一个光学目标检测装置13,並使园盘12插入检测器内。由光学目标检测装置13引出信号传输线L1和L2

在装置13中,一个发光器件与一个光敏器件彼此相对安装,使得园盘12保持在它们之间。这样,在电机旋转过程中,当通光孔121到达它们之间的位置时,发光器件所发出的光被光敏器件所检测,而与其接收到的光量相应的电流就流过光敏器件。因此,目标,即园盘12中所形成的透光孔存在与否被检测出来。

图2表出一种具体的光学检测电路。

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