[其他]X光检测仪

说明书

本发明涉及一X光检测仪，更详细地说，涉及适用于诸如食品产品中的杂质检测等质量控制过程的X光检测仪。

大批生产食品之类的产品时，原料成批运到工厂后用机器加工成食品成品。在原材料或食品产品中往往会有杂质存在，因此需要用适当的方法检查原材料和食品产品，以剔除含杂质的原料或产品。

曾经有人提出过用这样的方法检查这类原材料或食品产品;例如，将原料或食品产品放在传送带上，令其通过垂直往下呈扇形照射的X光，线性的X光检测仪安置在传送带底下。通常这种检测仪有许多（例如480个）光电二极管，各光电二极管都涂有X光荧光剂。在这类装置中，各光电二极管必须配备单独的放大器，光电二极管的输出经标度放大后加到适当的处理机上，该处理机适宜于确定在任何时候通过X光束的物质是否含有杂质。该处理机可驱动适当的剔除机构，由该机构剔除不干净的原材料或食品产品。

这种检测仪不仅适宜检测面包、糕点、罐装酸奶之类的制品，还可以检测干豆类中的石子和树枝、干豌豆中的石子和核桃仁中的核桃壳。

现有技术装置的问题在于各光电二极管的灵敏度不同，因此装置在使用前必须进行标定。此外，设置许多个个需要配备单独放大器的光电二极管是太不经济的，况且所需标度放大装置也并不便宜。

本发明的一个目的就是提供这样的一种检测X光用的检测仪，该检测仪由下列各部分组成：对X射线敏感的荧光元件;多个导光器，各导光器的一端处在可以接收所说的荧光元件发出的光的位置上，并有规律地成直线排列，所说的诸导光器的另一端则成圆形排列;在所说的导光器的圆形排列端附近设有可转动的装置，用以顺次探测所说的各导光器的圆形排列端，并把光从那里导向一个单独的光敏元件上。

所说的荧光元件最好是细长的荧光带。所说的诸导光器沿所说的荧光带的轴向成单行排列。

所说的诸导光器最好由光导纤维制成。

为方便起见，应装设一带孔板和使该带孔板绕通过所说的圆形排列端中心转动的装置。带孔板上的孔与所说的诸导光器圆形排列端对准以使来自导光器的光可顺次通过带孔板上的孔。此外还设有另一种导光装置，用以把光从所说的孔导向所说的光敏元件上。

所说的另一种导光装置最好有一个透明元件，该元件有一个与所说的诸导光器的圆形排列端对准的但被带孔板隔开的环形面，该元件的另一端与所说的光敏元件正面或进口面接触或毗邻。

如果所说透明元件是锥形或“漏斗”形的透明材料元件则更为有利。

在本发明另一个实施例中，带孔板还没有另一个导光元件。它的一端与所说的孔连在一起，另一端用以将光导向光敏元件上，所说的另一个导光元件与所说的带孔板一起转动。

上述诸导光器最好是固定在其圆形排列端上。固定的方法可以把导光器安置在有许多通孔环形元件上。导光器的各端即座落在这些通孔中。

为使本发明更易于理解从而领会本发明的其它特点，我们将通过实例并参照附图对本发明进行说明，其中：

图1是装有探测设备的X光仪各主要部件的示意透视图，为简明起见，图中支撑元件和X光屏蔽元件被省略了。

图2是通过图1中的探测设备的部分剖面图。

图3是图2所示探测设备的透视图。

附图1画出了传送带1，其传送方向如箭头2所示。传送带1用以传送待检验的原材料或其它物料。

X光源3装在传送带的上方。X光源的正下方有一个屏蔽板4。屏蔽板4上有一个横向狭缝5，扇形X光束6即从X光源3通过此狭缝照到传送带上。扇形X光束6垂直下射，光束平面在传送带1的传送方向2的横向方向延伸。

传送带由对X射线透明的材料制成，因而在正常情况下，扇形X光束6可以照射到位于传送带底下的带状X光检测器7。有关检测器将在后面详细谈到。

剔除器8设在检测器7传送带传送方向上的正方。剔除器的作用是剔除X光检测器检测出的任何带杂质的产品或原料。没被剔除的产品仍然留在传送带上继续往前进入包装工序或下一步的加工工序等。

现在看看图2和图3。本发明的检测器7安置在传送带1的正下方。检测器由带状物9组成，它可以是塑性材料，横向跨越传送带1。带状物9顶上有一对X射线敏感因而受X射线激励时能发射出光的荧光材料层10。荧光带状物用适当防护材料制成的保护罩保护。

带状物9背面有许多直径相当大的凹槽12，各凹槽12与直径较小的孔13连通。孔13从凹槽12一直延伸到带状物9的顶面，也就是说延伸到荧光层10的背面。