[其他]铁电体电滞回线计算机测试技术方案

权利要求书

1、一种铁电体电滞回线计算机测试技术方案，采用Sawyer-Tower电路，利用微计算机进行数据采集、存贮和控制等工作，本发明的特征是：用微计算机[4]产生所需测试电压波形的数字信号，经D/A转换器[5]和高压放大器[6]后得到所需测试电压U，这测试电压U加在Sawyer-Tower电路[7]，从Sawyer-Tower电路[7]输出信号经高输入阻抗放大器[13]后，由A/D转换器[14]送入微计算机[4]；采用“二分法”，通过编制计算机程序，把Sawyer-Tower电路[7]输出信号中试样[8]的线性电容C_xi[11]和损耗电阻R_x[12]的影响逐次加以消除；微计算机[4]根据这已消除掉线性电容C_xi[11]和损耗电阻R_x[12]的影响后的信号和加于试样[8]的测试电压U，控制绘图机[15]作出校正后的电滞回线。

2、按权利要求1规定的测试技术方案，其特征是加向Sawyer-Tower电路〔7〕的测试电压U的波形为三角波，斜率为K，最大幅值为Um，在测试电压U的一周期三段〔1〕、〔2〕、〔3〕时间内，根据下列公式设置计算机程序求出：

E₁′＝E₁-（CxiU/Co+U²/2RxCoK）

E₂′＝E₂-（CxiU/Co-U²/2RxCoK+Um²/RxCoK）

E₃′＝E₃-（CxiU/Co+U²/2RxCoK） （Ⅱ）

即得消除试样〔8〕中线性电容Cxi〔11〕和损耗电阻Rx〔12〕的影响后的信号E₁′、E₂′、E₃′;公式（Ⅱ）中U、Um、K和Co为已知知，E₁、E₂、E₃为三段〔1〕、〔2〕、〔3〕时间内Sawyer-Tower电路相应的输出信号。

3、按权利要求2规定的测试技术方案，其特征是试样〔8〕中损耗电阻Rx〔12〕和线性电容Cxi〔11〕的具体值是采用“二分法”，编制计算机程序逐次逼近求得：（1）先使Cxi〔11〕＝0，先进行损耗电阻Rx〔12〕的逐次逼近求值，判别各种校正状态的特征是：测试电压U接近正峰值的前和后部分时间中，从公式（Ⅱ）求出的E₁′-E₂′＞0属过校正，E₁′-E₂′＜0属欠校正，E₁′-E₂′＝0属最佳校正;（2）使Rx〔12〕为以上求得的最佳校正值，进行Cxi〔11〕的逐次逼近求值，这时判别各种校正状态的特征是：在测试电压U接近正峰值前的部分时间中公式（Ⅱ）中E₁′对时间的导数为正值时属欠校正，这导数为负值时属过校正，这导数为零时属最佳校正;求得最佳校正的Rx〔12〕和Cxi〔11〕值的同时，由公式（Ⅱ）得到相应的得最佳校正的信号E₁′、E₂′、E₃′，微计算机〔4〕根据这E₁′、E₂′、E₃′信号和加于试样〔8〕的测试电压U控制绘图机〔15〕作出最佳校正后的电滞回线，微计算机〔4〕同时控制打印机〔16〕输出最佳校正的Rx〔12〕和Cxi〔11〕的值。