[发明专利]调频测光法

说明书

本发明涉及紫外、可见分光光度计和红外分光光度计等仪器中对给定频率进行调制的光信号鉴频，并使用与调制相同步的解调装置对光信号进行同步测试的方法。

过去，在使用光“通-断”调制装置的情况下，当光束的几何尺寸与旋转遮光器等调制装置的几何尺寸相比不容忽略时，如果根据测试样品等的不同而改变光束大小及其对调制装置的相对位置，则同步整流信号的最佳相位将发生变化。

这里，同步整流信号可借助光耦合器等检测装置检测出调制装置的旋转动作而得到，而同步整流信号的相位可通过光耦合器等检测装置的机械对位进行调整。

图4中相对于调制装置旋转遮光器2而言，由大测试样品等限定的光束4的大小和位置如实线所示，由小测试样品等限定的光束6的大小和位置如虚线所示。

如果图5（A）所示的同步整流信号确定出光束4的最佳相位，用此同步整流信号对光束4进行同步整流，即可得到图5（B）所示的信号。然而，在改变测试样品使光束的位置和大小由光束4变为光束6时，若以图5（A）的同步整流信号对光束6进行同步整流，则整流的信号如图5（C）。图5（C）所示的整流信号从表面上看检出的信号是小的。如果检测器等的杂波一定，则信杂比（S/N）将下降。

但是，在先前的方法中，检测调制装置旋转动作的光耦合器等的 位置经调整好后是固定的，因而同步整流信号的相位也是固定的，如图4所示那样光束变化时，无法调整同步整流信号的相位。

本发明的目的在于提供一种测光的方法，以便被测光束变化时能在测试前使同步整流信号的相位最佳化。

本发明的调频测光法是在对调制装置调制的光信号进行鉴频，并与调制同步地解调的测光中，在对应于上述调制装置中光“通-断”动作所预先确定的延时时间之后，设有产生改变整流脉冲的延时电路，可在测试开始前改变同步整流脉冲的延时，而对测试样品确定最佳的整流脉冲相位。

图1示出本发明测光系统的一个实施例的框图;

图2为图1测光系统中A～D信号的波形图;

图3是实施例的操作流程图;

图4是表明旋转遮光器与光束关系的正视图;

图5示出同步整流信号经同步整流的调制波的信号波形图。

如图1和图2所示，由调制装置旋转遮光器2调制的光信号经检测器和前置放大器8检出并放大后，通过调谐于调制频率的窄带放大器10进行选频放大，得到提高了信杂比的信号A。由窄带放大器10选频放大的信号A为正弦波。

光耦合器12检测旋转遮光器2的旋转动作。由旋转遮光器2的旋转动作输出以信号C表示的脉冲信号。延时电路14使用调制同步信号C经任意延时时间T后输出同步整流信号D。同步整流电路16接收到延时电路来的同步整流信号D，用它对信号A进行同步整流。同步整流得到的信号B经滤波电路18后输出。20为中央处理器（CPU）系统，由接口22向延时电路14传输，延时电路依次改变延时时间，与此同时，将各个延时时间下由滤波电路18输出的信 号E经模/数（A/D）转换器24输入，由此确定使滤波电路18的输出信号E成为最大时的延时时间。

为了实现这样的功能，CPU系统20中除CPU20外，还设有程序存贮器28、存贮各延时时间下滤波电路18输出数据用的存贮器30和存贮下面所述的N、T、X参数以供运算用的存贮器32。

现在通过图3的流程说明本实施例中确定最佳延时时间的步骤。

设定延时时间T和延时时间变动次数N的初始值（T＝0、N＝0）（步骤S1）。

首先，向延时电路14输出延时时间T＝0，将此时由滤波电路18输出的E₀作为输入数据，存入0号地址存贮器中（步骤S2～S4）。

然后，将N加1，按下列计算延时时间T（步骤S6、S7）：

T＝（△t/m）N

式中，△t为延时时间的最大值。

对这种方法给出的延时时间进行相同的检测，依次将数据存入数据存贮器。

当N＝m时，停止改变延时时间，对存入于存贮器内的数据E₀～Em进行比较，令最大值时的N为X（步骤S5～S8），并按下式求出的延时时间就是可使滤波电路18的输出为最大时的延时时间：

T＝（△t/m）X

这就是对这时的光信号而言的最佳延时时间。

将这一最佳延时时间定为向延时电路14输出的延时时间T，然后可转入下一步的测试（步骤S9）。

这样，可使延时时间T在0～△t之间变化，确定出最佳延时时间。