[其他]测试生长法

说明书

本发明涉及集成电路的测试，尤其是涉及响应电路设计信息的产生测量向量的方法。

由于超大规模集成电路器件的复杂性以及难于达到成品中内部导电通路，在设计阶段就经常要想方设法去确定所拟议的电路的可测试性，并设计出成套的可用测试输入或向量以检查所制造的器件中的可能故障。设计的向量，即那些准备用于电路正常操作的向量可能适宜也可能不适宜揭露电路中的隐藏故障，因这些故障只有在不寻常的操作条件下才变得明显。如果电路的输入端数很大，为揭露这些故障而应用二进制输入值的所有组合就会变得不切实际。另一种方法则利用自动测试码模式发生器，以提供一种适于揭露某个或某些指定的故障，例如电路中的“胶着”（stuck-at）故障。因而，采用一种故障模拟程序以检查结果，并确定其它故障是否也可用相同的输入向量检测其它故障。即，故障模拟器试图为一已知测试的效能分级。于是，另一种故障拟用于自动测试码模式发生器，这种故障不会被第一测试向量掩盖，而自动测试码模式发生器提供一种第二测试向量。这种迭代法继续下去，直到被掩盖的故障数同合乎要求或可以接受为止。可惜的是，这些过程，就以模拟而需用的计算机时间来说，是既冗长而又花钱的。许多设计者终于在可能的场合下避免采用这类测试方法。

总的说来，至今似乎还没有一种在集成电路器件中采用产生测试向量的方法，该方法是真正令人满意的。

根据本发明，一个已知的测试计数过程被用以提供可测试性信息，然后用这一相同的信息以枚举法产生测试向量。

更具体地说，一个集成电路网络的可测试性是根据测试计数过程来量度的，这个测试计数过程包括了通过介入门电路从输入端前向至一个主输出端并后向返回到输入端的敏感测试计数的传输，以便给网络中的节点提供测试计数矩阵。从所说矩阵，通过将各自的在所说输入端的敏感数值前向驱动至一所说输出端，并后向回到所说输入端的若干连续趟数来枚举测试计数，从而按照原来各电路节点处的所说矩阵所叙述的做法来累积测试计数。一组敏感值（每趟都要驱动这些节点值）被分别存储起来，而每组的输入敏感值都包括集成电路网络用的测试向量。

本发明的一个目的是要提供一种改进的测试集成电路器件的方法。

本发明另一个目的是要在设计和计算机模拟阶段（它不要求无节制地消耗计算机时间）提供一种改进的测试集成电路器件的方法。

在本说明书的结束部分要特别指出本发明的主题，并明显地提出权利要求。但是，不管是本发明的构造还是操作方法，都可以和其他优点和目的一起，通过参考下列叙述和附图（其中相同的参考字符代表相同的元件）来很好理解。

图1是先有技术的自动测试码模式产生流程图，

图2是根据本发明的用以产生测试向量的流程图，

图3是门电路示意图，用以说明在测试计数中所采用的敏感的和钝感的测试值，

图4说明可能在与门电路出现的敏感的和钝感的输入值和输出值，

图5A画出一个测试计数矩阵，

图5B画出一个异或门上的测试计数值，

图6说明再汇聚扇出术语中的路径定义，

图7说明为多个门电路用的前向敏感驱动，

图8说明为若干个不同门电路用的后向敏感驱动，

图9说明为多个门电路用的后向钝感驱动，

图10至26是本发明包括可测试性分析和测试向量产生过程的诸步骤0至16，

图27是按图10至26过程推导出的一整套测试数组图，以及

图28至32包括一个根据本发明的计算机化过程的流程图。