[发明专利]热分析装置

说明书

本发明是关于在输出端备有补偿装置的热分析装置，补偿装置对检测装置检测灵敏度的温度依赖性进行补偿。

例如，对于高分子物质的状态变化的分析，大多使用热流型示差热量测定装置。在这种装置中，把插入样品的样品容器和插入标准物质的标准容器放在置于加热炉内的传热板上，以一定的升温速度使之加热，在此过程中发生的样品吸热和发热现象所引起的热能的传递和接收通过传热板进行，与此同时，对由两个热电偶构成的检测装置检测到的示差热量进行测定。

在这种装置中，由于传递和接收热能的传热板的热传导率随温度上升而变化，并且热传递还受到与周围温度相对应的辐射、对流等因素的影响，所以，两个热电偶构成的检测装置对样品的吸热和发热的检测灵敏度表现出随加热温度上升而降低的特性。因此，表示样品吸热和发热的峰值波形的振幅就随加热温度的上升而减小。因此，尽管采取了在加热炉的上、下面复盖有光泽的均热砖块以防止检测装置偏热，但是，既然是一边使加热炉的加热温度以一定速度上升，一边进行测定，就不可能与周围温度的变化无关，所以，输出峰值波形的振幅随温度而变化的问题依然存在。

鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种经过改进的热分析装置，在检测装置的输出端对其检测灵敏度进行补偿，使之不受周围温度的影响。

也就是说，本发明的特征是：设有检测装置和折线函数电压发生装置，检测装置将表示热量检测灵敏度随加热炉加热温度上升而降低特性的标准物质同样品的温差及样品温度分别输出，折线函数电压发生装置输出随上述检测装置输出的样品温度电压的增加而变化的非线性电压，与此同时，还具有乘法运算装置或分压装置，乘法运算装置把上述折线函数电压发生装置发生的电压同上述检测装置检测的标准物质与样品的温差电压进行乘法运算，分压装置以上述折线函数电压发生装置发生的电压为控制电压，通过其内阻可随上述控制电压振幅变化，变换为具有与上述检测装置检测灵敏度特性对称特性的可变阻抗装置，对上述检测装置输出的标准物质与样品的温差电压进行分压。

在把热量检测灵敏度随加热炉的加热温度的增加而降低的检测装置检测的标准物质与样品的温差电压输给乘法运算装置的同时，把电压增加率随检测装置检测的样品温度电压的上升而变化的非线性电压为补偿电压，也输给乘法运算装置，通过将补偿电压同标准物质与样品的温差电压进行乘法运算，对标准物质与样品温差电压峰值面积的减小进行补偿。

另外，以上述非线性电压为控制电压输给可变阻抗装置的控制极，通过该控制电压，使可变阻抗装置的内阻获得与检测装置检测灵敏度对称的特性，从而输出经过补偿的不受检测装置热量检测灵敏度影响的标准物质与样品的温差电压。

第1图是本发明的一个实施例的结构图，第2图（A）是热电偶的热量检测灵敏度特性曲线图和吸热与发热的峰值波形图，第2图（B）是折线函数电压发生器的输出电压波形图。

第3图是本发明的另一实施例装置的结构图，第4图（A）是热电偶的吸热与发热的热量检测灵敏度特性曲线和经场效应晶体管补偿后的内阻特性曲线图，第4图（B）是未经场效应晶体管补偿过的内阻特性曲线图和折线函数电压发生器的输出电压波形图。在图中：

1……加热炉

5、5′……热电偶

10、8、9……折线函数电压发生器

12……乘法运算器

15……场效应晶体管

下面，根据附图所示的实施例对本发明作详细说明。