[其他]便携式数字电路测试仪

说明书

本实用新型是一种测试数字电路的电子仪器。

随着电子工业的飞跃发展，数字集成电路日益广泛地应用于各个领域，使用量急剧增长。由于集成电路品种多、外形各异、逻辑功能复杂和接脚毫无规律等原因，使设计和制造一种通用的集成电路测试仪带来了较大的困难。目前，国内外的集成电路测试仪通常采用两种方法，一是比较法，它采取把需测集成电路和标准电路进行比较的方法，例如国营南昌无线电仪器厂生产的NY3122型数字集成电路测试仪；二是计算法，它采取把被测电路输出信号按频带压缩理论压缩成特征值，是近期国内外普遍采用的方法，例如美国IST公司的370A数字集成电路测试仪。由于采取以上方法制造的集成电路测试仪电路结构复杂，成本高，目前只能测试24个接脚以下的集成电路，并且不能用数字显示失效的接脚编号和失效性质（逻辑或电平），因而不能被普遍采用。

本实用新型的目的是提供一种能测试28接脚以下各种数字电路，且能显示出发生失效的接脚编号，具有测试容量大、成本低、体积小、操作简单的便携式数字电路测试仪。

本实用新型采取以下技术方案实现：

1.扫描比较电路。为了简化仪器的电路结构，降低成本，并能显示失效性质和失效的接脚编号，本仪器采用对被测电路和标准电路的各个接脚进行同步扫描测试比较。来鉴别被测电路是否失效。在测试中，信号发生器〔1〕发生脉冲信号，通过扫描控制器〔2〕控制电子选择开关〔10〕、〔11〕，对标准电路〔8〕和被测电路〔9〕的各个对应接脚进行同步扫描测试。在确定的状态下，经过对所有接脚的扫描比较测试，CP计数器〔3〕达到了预定数值后，发出一个状态改变信号发给序列、状态发生器〔4〕，CP信号及状态经过电平变换器〔7〕变换成被测电路所需标准电平信号，使标准电路〔8〕和被测电路〔9〕改变测试状态，电子选择开关〔10〕、〔11〕在扫描控制器〔2〕的控制下进行新状态的扫描比较测试。当所有状态都进行扫描测试后，如果被测电路输出电平和逻辑输出与标准相符，则由序列状态发生器〔4〕发出信号，合格显示器〔5〕显示出合格信号，同时信号发生器〔1〕停止发送信号，整个测试结束。在每次扫描测试中，如果被测电路〔9〕的输出逻辑与标准电路〔8〕的输出逻辑不同，由电平变换器〔12〕和电平鉴别器〔13〕输出的信号通过逻辑比较器〔14〕比较后，使失效显示器〔15〕显示出逻辑失效信号；如果被测电路〔9〕的输出电平不符合标准时，电平鉴别器〔13〕发出信号，使失效显示器〔15〕显示出电平失效信号。在失效显示器〔15〕显示出失效信号的同时，使得信号发生器〔1〕停止发出信号，扫描控制器〔2〕停止扫描，扫描显示器〔6〕即显示出失效接脚的编号。

2.测试卡电路。为了有效地解决不同类型、不同品种电路的兼容测试问题，本仪器将各种标准电路装在带有测试条件的电路板接插件上，构成各种测试卡。当测试不同种类的电路时，只要变换测试卡就能实现，既利于自动测试，又为新品种扩展测试带来方便。

3.归一化技术。由于集成电路种类很多，接脚排列毫无规律，各个接脚都有可能是输入、输出，电源或空脚，为了减少人工判别的工作量，本仪器在测试时每一个接脚都看成输出端进行测试，即称为归一化技术。

本实用新型与现有技术相比，具有以下优点：

1.电路结构简单，成本低；

2.测试容量大，便于新品种扩展测试；

3.显示直观，不仅能显示电路是否合格，而且能显示电路是逻辑失效还是电平失效，以及显示失效接脚的编号。

4.体积小、重量轻、便于携带、操作简便。

图1是本仪器的电路方框图；

图2是电子扫描测试原理示意图。

本实用新型可采取以下方案实施：