[其他]原位粒径测量仪

权利要求书

1、用于获得(存在于某种流体物质中的)粒子大小的测量结果的粒径测量仪，其特征在于包括：

a.一个探头部分，其内形成有一个聚样通道，包含待测粒子的流动物质流过该通道；

b.一个光源，能用于产生包括多根单独光线的一束光；

c.与所述光源光学耦合的光传输装置，所述光传输装置能传输来自所述光源的光束；

d.第一聚焦装置，该装置安装在所述探头部分内，被置于所述取样通道的一个侧面上，所述第一聚焦装置被光学耦合到所述光传输装置，以便从那里接收光束，所述第一聚焦装置为如此聚集穿过所述取样通道的光束而起作用，以致当该光束穿过所述取样通道时，包含在所述取样通道内的流体物质中的粒子能够引起该光束的各光线的散射；

e.第二聚焦装置，该装置安装在所述探头部分内，被置于所述取样通道的另一侧面上并与所述第一聚焦装置对齐，所述第二聚焦装置能捕获在其穿过所述取样通道过程中被散射了的光线；和

f.检测装置，该装置被光学耦合到所述第二聚焦装置，用以接收来自第二聚焦装置的散射的和校正光线，所述检测装置能根据所接收的散射光线光强而产生与(光线穿过所述取样通道时，引起其散射的)粒子大小有关的信号。

2、如权利要求1所述的粒径测量仪，特征在于其中所述光源包括一个激光器。

3、如权利要求2所述的粒径测量仪，特征在于其中所述激光器包括一个氦氖激光器。

4、如权利要求2所述的粒径测量仪，特征在于其中所述激光器包括一个半导体激光器。

5、如权利要求2所述的粒径测量仪，特征在于其中所述光传输装置包括一根光缆。

6、如权利要求5所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第一聚焦装置包括一个第一消色差透镜。

7、如权利要求6所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第一聚焦装置还包括一个第一透镜支承装置，以将所述第一消色差透镜安装固定在所述探头部分内，所述第一透镜支承装置具有一个在其内形成的，通过光束的第一孔。

8、如权利要求7所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第二聚焦装置包括一个第二消色差透镜。

9、如权利要求8所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第二聚焦装置进一步包括一个用以将所述第二消色差透镜安装固定在所述探头部分的第二透镜支承装置，所述第二透镜支承装置具有一个在其内形成的用以接收散射光线的第二孔。

10、如权利要求9所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第二消色差透镜比所述第一消色差透镜要大。

11、如权利要求10所述的粒径测量仪，特征在于其中所述第二孔要比所述第一孔大。

12、如权利要求11所述的粒径测量仪，特征在于其中所述检测装置包括一个其内形成有多个径向环的环状部件。

13、如权利要求12所述的粒径测量仪，特征在于其中所述检测装置也包括多组光缆，所述光缆组的每一个被光学耦合到所述环状部件的所述多个径向环之一。

14、如权利要求13所述的粒径测量仪，特征在于其中所述检测装置进一步包括多个光电二极管，所述多个光电二极管之每一个被光学耦合到所述多个光缆组之一。

15、对存在于流体物质中的粒子进行测量的方法，特征在于包括如下步骤：

a.产生包含许多单独光线的一束光;

b.对穿过包含待测粒子的流体物质（因该流体物质中的粒子而引起光束的多光线散射）的光束进行聚焦;

c.接收该散射光线;

d.将该散射光线聚焦到一个检测器上;及

e.产生根据该散射光线的光强（其对应于引起光线散射的粒子大小）的信号。

16、如权利要求15所述的对存在于流体物质中的粒子进行测量的方法，特征在于其中的光束是由氦氖激光器产生的。

17、如权利要求15所述的对存在于流体物质中的粒子进行测量的方法，特征在于其中的光束是由半导体激光器产生的。