[发明专利]包括检测缺陷门电路的超声信号处理系统

权利要求书

1、一个超声信号处理系统，包括：

一个控制处理器(10)；

一个定时控制单元(26)，它与上述控制处理器(10)连接并产生包括窗口信号的定时控制信号；

一个脉冲控制单元(28)，它与上述定时控制单元(26)相连并受其控制；

一个探测换能器(20)，它与上述脉冲控制单元(28)相连并受其控制，并产生一个接收信号；

一个解算器(24)，它与上述探测换能器(20)连接并产生上述探测换能器(20)的位置信号；

一个模拟多路转接器(32)，它与上述定时控制单元(26)和探测换能器(22)相连，并根据窗口信号衰减接收信号；和

一个数字转换器(34)，它与上述模拟多路转接器(32)相连并将衰减的接收信号数字化，

其特征在于：

多个检测缺陷的门电路(36-42)，它们与上述数字转换器(34)、定时控制单元(26)、和解算器(24)相连，每一检测缺陷的门电路根据一个窗口信号通过将一个阈值的波形根据一个测距补偿进行移位来存储和处理数字化的衰减接收信号，并将存储的数字化衰减接收信号与移位的阈值波形相比较并在数字化的接收信号超过阈值波形时产生缺陷的特征並存储上述位置，上述控制处理器(10)在上述探测换能器(20)的一次扫描结尾时检索缺陷特征数据和相应的位置，并根据该位置和缺陷的特征确定缺陷的位置。

2、一种用探伤换能器和测距换能器确定一个被测材料中缺陷特征的方法，包括以下步骤：

a）在一个位置上从测距换能器获得材料的一个测距补偿;

b）启动探伤换能器在该位置产生一个探测信号;

c）在一个采样窗口中对返回的探测信号进行采样以产生一个数字返回信号的采样波形，

其特征在于：

d）用测距补偿将一个数字返回信号采样波形移位;

e）将一个阈值的波形与移位的返回信号采样波形相比较;

f）存储经移位后的返回信号采样波形超过阈值波形的突出部分的高峰幅值和峰值时间;

g）在不同位置重复步骤（b）-（f）;和

h）将这些高峰幅值，峰值时间和位置传送给一个缺陷定位装置。