[发明专利]可擦光盘及带有处理缺陷弧段的光信息记录与再现装置

说明书

本发明涉及一种可擦光盘和一种通过向光盘射一束激光束记录和再现光信息的光信息记录和再现装置。更确切地说，涉及光盘缺陷弧段的处理。

一例光盘缺陷数据弧段的处理方法在JP-A-61-20271中公开。图4显示光盘中代换光轨的排列。参照图4，光盘包括代换光轨A，记录数据的普通光轨B，第二代换光轨区C，和其上记有地址的区域识别区D。图5是一包括图4所示的替换光轨的光盘上记录并再现信息的光信息处理装置的框图。在图5中，光信息记录与再现装置包括一个弧段地址再现电路19，一个数据再现装置20，一个目标弧段地址寄存器21，一个弧段地址符合探测电路22，一个数据门信号电路23，一个数据再现门信号电路24，一个缺陷弧段探测电路25，一个代换光轨设置电路26，以及一个用以在缺陷弧段写下识别信号的弧段删除门信号电路27。

在具有上述结构，用以向具有图4所示光轨功用的上述光盘上记录并从其中再现光信息的光信息记录和再现装置中。当目标弧段地址寄存器21的输出信号与弧段地址再现电路19的输出信号符合时，弧段地址符合探测电路便产生一个符合信号。弧段地址符合探测电路22产生的符合信号被加到数据记录门信号电路23或数据再现门信号电路24，并且，缺陷弧段区探测电路根据所加数据再现电路20的输出信号或数据记录门信号电路23的输出信号或数据再现门信号电路24的输出信号，通过探测如弧段识别区的弧段的一个地址错误或因翻译一个错误探测与校准编码在数据再现电路20中探得的错误校正子来探测缺陷弧段。当探测到一个这样的缺陷弧段时，代换光轨设置电路26计算与缺陷弧段所属的数据光轨相联系的代换光轨，并且缺陷弧段区上的数据被记录在代换光轨的一未用弧段上。接着，弧段区删除门信号电路27在缺陷弧段的数据区改写一删除信号。在再现操作中，改写在缺陷弧段的数据区的删除信号被探测以表明缺陷弧段被代换光轨的一个弧段所代替。

因此，在上述光盘中，每个光轨单元都配有这样一条代换光轨，以减少选取代换光轨的时间。

当具有上述光轨功用的光盘是其中同一数据弧段上的数据可重复消除与记录的可擦光盘时，缺陷弧段探测电路25可通过探测弧段地址识别区的地址错误来探得缺陷弧段。但是，当缺陷在缺陷弧段的数据区时，因为记在数据区上的删除信号不能在探测到弧段区地址识别区中的弧段地址之前被探测到，数据记录在缺陷弧段的数据区。结果，上述这种光盘存在这样一个问题，同一缺陷弧段的代换操作重复进行，并且，因此还需要为这一操作的额外处理时间，导致提取速度下降。

着眼于解决上述问题，本发明的一个目的提供一种带标记弧段的光盘，在标记弧段中，缺陷扇区的地址和代替缺陷弧段的代换弧段的地址间的符合被记录成标记数据，以提高用代换弧段代替缺陷弧段区的处理的速度。本发明的另一目的是提供一种使用这种光盘的光信息记录和再现装置。

根据本发明，提供有适于向各自分成多个弧段的光轨上记录并从其中再现数据的光盘，光盘包括多个光轨区块，每个光轨区块包括在其上记录数据的数据弧段，代换弧段，用以用一代换弧段代替一缺陷弧段，以及至少一个标记弧段，用以记录表示缺陷弧段和代替缺陷弧段的代换弧段间的地址符合的标记数据。根据本发明还进一步提供有采用上述光盘的光信息记录和再现装置，装置包括用以向光盘弧段上记录并从其中再现数据的装置，用以向探测和校正发生在任一数据中的错误的数据上加一错误探测及校准编码的错误控制装置，用以探测在任一区块中的缺陷弧段的缺陷弧段探测装置，用以存储记录在标记弧段上的标记数据的记忆装置，和响应缺陷弧段探测装置对一区块中一缺陷弧段的探测，用以在储存在记忆装置中的标识数据的基础上，用一代换弧段代替探得的缺陷弧段的弧段代换装置。

这样，在本发明中具有上述结构的光信息记录与再现装置采用具上述弧段功用的光盘，表示某一区块中的一缺陷弧段的地址信息与代替该缺陷弧段的代换弧段的地址信息间的符合的标记数据被记录在用一区块中的标记弧段中，所以，在数据再现或数据重写时，代换弧段的地址信息可从代换弧段所在区块的标记弧段得到，并且数据能高速地从代换弧段再现或在其上重写。

图1是根据本发明的光信息记录与再现装置的一最佳实施方案的框图。

图2是适用于图1中所示的本发明的装置的光盘的第一个实施方案的结构图。

图3是适用于图1中所示的本发明的装置的光盘的第二个实施方案的结构图。

图4显示已有技术的光盘中代换光轨的排列。

图5是采用图4所示的带有替换光轨的光盘的光信息记录与处理设备。

最佳实施方案的描述：