[其他]电工测试用A/D转换模板无效
| 申请号： | 87201176 | 申请日： | 1987-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN87201176U | 公开（公告）日： | 1987-12-02 |
| 发明（设计）人： | 林在荣 | 申请（专利权）人： | 机械委上海电器科学研究所 |
| 主分类号： | G01R21/13 | 分类号： | G01R21/13;G01R15/00 |
| 代理公司： | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人： | 白璧华 |
| 地址： | 上海市武宁*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电工 测试 转换 模板 | ||
【权利要求书】：
1、一种电工测试A/D转换模板，包括电子开关、隔离放大器和A/D芯片，其特征在于它将电压、电流为两个通道，即电子开关Su[9]、A/D-U芯片[2]、光电耦合器[4]为一路，电子开关Si[8]、A/D-I芯片[1]、光电耦合器[3]为另一路，並配有同步电路[7]和脉冲变压器[5]、[6]，其接配关系为：A/D-I芯片[1]的输入侧与多路电子开关S1[8]连接，输入侧的另一线接地，输出侧与光电耦合器[3]相接，A/D-I还分别与脉冲变压器[6]的次级线卷、同步电路[7]的输出级相接，A/D-U芯片[2]的输入侧与多路电子开关Su[9]、同步电路[7]相接，另一线接地，其输出侧与光电耦合器[4]相接，A/D芯片还分别与脉冲变压器[5]的初级线卷和同步电路[7]输出级相接。
2、根据权利要求1所述的A／D转换模板，其特征在于光电耦合器S1〔3〕中，在光电耦合级〔3－1〕与锁存级〔3－3〕中间插入一整形电路〔3－2〕，在光电耦合级〔4－1〕与锁存级〔4－3〕中间插入一整形电路〔4－2〕，其传输比均为20～30％。
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