[其他]可擦除光盘和光信息录放装置

说明书

本发明涉及光盘和光信息录放装置，特别是利用照射激光反复录放信息的可擦除光盘和用可擦除光盘录放信息的光信息录放装置。

图8是光盘的相变化记录介质的非结晶状态A和结晶状态C的相变化的一个例子，介质利用反射率小的非结晶状态A和反射率大的结晶状态C记录信号。信号通过将处于结晶状态C的部分的温度局部地升高到融点附近后，使之急剧冷却成为非结晶状态A而被记录下来;信号又通过将介质的温度局部地升高到融点附近后，使之慢慢地冷却，将光束照射部分变为结晶状态C时被擦除。

图9是用来说明利用录放光束和擦除光束记录和擦除信号的记录擦除原理图。图9（a）是介质实现升温骤冷条件和升温渐冷条件的光束的结构，图9（b）是该光束的光强分布。在图9中，23是微米数量级的短径录放光束;23a是录放光束23的光强分布;24是几微米至十几微米的长径擦除光束;24a是擦除光束24的光强分布;25是蒸镀上了记录介质的导引光道。利用光束的径长和光强分布的差别，用短径形成升温骤冷条件，用长径形成升温渐冷条件。

利用一定强度的擦除光束24照射导引光道25的信息部分，由比录放光束23先行的擦除光束24将以前记录在该信息部分的信号擦除，然后由录放光束23记录数据。

但是，在上述结构中，录放光束23和擦除光束24必须处于同一导引光道上。通常，录放光束23和擦除光束24分别由不同的半导体激光光束构成图9（a）所示的情况。

这样一来，由于靠机械精度使录放光束23和擦除光束24位于同一导引光道上很困难，因此对擦除光束也必须进行与录放光束相同的跟踪伺服控制。但是，对擦除光束进行跟踪伺服控制时，跟踪传动装置在光盘的径向有2～3微米的可动范围，所以，开动伺服控制时，不能保证擦除光束24跟踪在与录放光束23相同的导引光道25上。于是，便会错把相邻的光道擦除。另外，当由于振动和冲击等引起光束跳轨时，也会发生同样的问题。

有鉴于此，本发明的目的旨在提供一种能检测录放光束与擦除光束是否位于同一光道和保证录放光束与擦除光束位于同一光道、并且当没有位于同一光道时能立即停止其擦除和记录功能的光盘和光信息录放装置。

本发明的光盘具有记录扇段地址信息的扇段标识符、记录信息的数据段和位于标识符与数据段之间的可识别擦除光束位于相邻光道的标记信号;本发明的光信息录放装置包括顺序照射擦除光束和录放光束的照射装置、利用录放光束录放信息的录放装置、利用擦除光束擦除信息的擦除装置和利用擦除光束再生和检测标记信号的标记信号检测装置。

按上述结构构成的本发明的光盘利用擦除光束检测标记信号，从而可以检测擦除光束与录放光束是否位于同一光道上;擦除装置依靠标记信号检测装置是否检测到标记信号来判断擦除光束的位置，从而可以防止发生错把相邻光道的数据擦除的现象，并且还可以保证擦除光束与录放光束位于同一光道上。

图1是本发明的一个实施例中光盘的扇段格式的结构图，图2是图1的标记信号M1和M2的实施例的说明图，图3是采用本发明的光盘的光信息录放装置第一个实施例的框图，图4是图3各部分的信号波形图，图5是采用本发明的光盘的光信息录放装置的第二个实施例的框图，图6是本发明的光信息录放装置的第三个实施例的框图，图7是图6各部分的信号波形图，图8是相变化记录介质的非结晶状态A和结晶状态C的相变化图，图9是说明记录和擦除原理的图。

图1是本发明的一个实施例中光盘的扇段格式的结构图，图1（a）是光道地址为奇数的扇段格式，图1（b）是光道地址为偶数的扇段格式。

在图1中，ID是记录扇段地址信息的扇段标识符;DF是记录数据的数据段;M1和M2是表示可用擦除光束检测的光道地址为奇数或偶数的标记信号;G11和G12是为了识别标记信号M1和M2的长度分别为T₁和T₂的间隙;G21、G22和G3分别是为了适应激光输出的过渡响应时间或光盘的转速误差等时间差所设的间隙。