[其他]带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置无效

专利信息
申请号: 88102754 申请日: 1988-05-12
公开(公告)号: CN88102754A 公开(公告)日: 1988-11-30
发明(设计)人: 马尔德·亨德里科 申请(专利权)人: 老代尔夫特光学工业有限公司
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02;G01T1/02;G03B42/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 王以平
地址: 荷兰代*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图象 补偿 狭缝 射线 照像用 装置
【说明书】:

本发明涉及一种带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置,它包括一个X-射线源,此源可以穿过狭缝光阑的狭缝,以一个平面的扇形X-射线束沿着横过该狭缝长度方向遍及一个扫描途径,对被检测的物体进行扫描,以便在X-射线探测器上形成X-射线影像图;它还包括一个吸收装置,在控制信号的控制下该吸收装置可影响每个扇形区的X-射线束,以便控制落在被检测物体每个扇形区中的X-射线辐射;和一个探测装置,用来探测在X-射线束扫描运动期间由物体各扇形区即时透射的X-射线辐射量,並将此转换成相应的信号。

可从譬如荷兰专利申请8400845知道这种装置,该申请已被公开供查阅。该已知装置可有一个长方形的X-射线图像倍增管作为X-射线探测器,该管进行一种与X-射线束同步的扫描运动,或者可有一个譬如大的、固定的X-射线屏,该屏被一个平面的扇形X-射线束以条纹方式所扫描,以形成被检测物体一部分的完整X-射线影像。就一种意欲产生胸部照片的装置来说,这种大X-射线屏具有譬如40×40Cm2的面积。

根据在先荷兰专利申请8503152及8503153提出的用于电离辐射的细长辐射剂量计,可用于探测被检测物体及其各扇形区即时透射的辐射量。为此目的,这个已知的辐射剂量计也与X-射线束扫描运动同步地进行扫描运动,即在扫描运动的任何瞬间,由被检测物体透射出的X-射线也通过该剂量计。

为此目的,就需要专门的装置来保证这个剂量可以沿着这个被期望的途径产生一个扫描运动,並保证该剂量计所做的这个扫描运动实际上是与X-射线束同步发生的。

根据荷兰专利申请8503152和8503153,为了这个目的,可以利用一个支架支撑X-射线源、狭缝光阑及吸收装置,而且此支架还可以绕X-射线源的X-射线焦点旋转。这个支架远离X-射线源的那端与此剂量计相连接。

本发明的一个目的是要提供一种狭缝X-射线照像用的装置,它不需要专门的装置去使一个辐射剂量计或别的探测装置实体上去作扫描运动。

本发明的另一个目的是要限制一种带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置中移动部件的数目。

为此,根据本发明,上述这类装置的特征在于,其探测装置包括一个用于电离辐射的二维辐射剂量计,它放在被检测物体后面,剂量计的宽度对应于该处平面的、扇形X-射线束宽,其高度对应于总扫描距离,而且此剂量计至少有一个基本上平行的电极系统,这些电极沿扫描方向伸展,並与一个用以对吸收装置形成控制信号的控制装置相连,而且至少还有一个反向电极。

下面参照表示一些实施例的附图来更为详细地解释本发明。

图1示意地表示一个按照本发明装置的例子;

图2示意地表示本发明的装置所用的辐射剂量计的前视图;

图3表示根据图2的辐射剂量计的截面;

图4表示图3的一种改型;

图5和图6表示本发明的装置所用的不同的辐射剂量计的截面;

图7仍表示本发明的装置所用的辐射剂量计的另一个实施例;

图8表示图1的一种改型;以及

图9和10表示本发明的装置所用的辐射剂量计的两种进一步改型。

图1示意地表示按照本发明的装置的一种实施例。所表示的带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置,包括一个具有X-射线焦点f的X-射线源1。置于X-射线源前面的是一个带有狭缝3的狭缝光阑2,使用时它能透过一个基本上为平面的、扇形X-射线束4。还有一个吸收装置5,它可以影响每个扇形区的扇形X-射线束。此吸收装置由通过线路6送入的控制信号来控制。

使用中,X-射线束4照射一个被检测的物体7。物体7的后面放有一个X-射线探测器,用来记录X-射线影像图。X-射线探测器8可以是一个大屏幕的X-光底片盒,就像图1所示的那样,不过它也可以是譬如一个移动的长方形X-射线图象倍增器。

为了在X-射线探测器上表示整个物体7或者至少其中被检测的一部分,比如胸廓,使用时平面X-射线束作一扫描运动,就如箭号9a所示意的那样。为了这个目的,X-射线源要与窄缝光阑2以及吸收装置5一起这样排列,以使它们能相对于X-射线焦点f转动,就如箭号9b所表示的那样。然而,也可以以另一种方式用平面X-射线束来扫描被检测的物体,譬如使X-射线源与狭缝光阑一起或不与其一起进行直线运动。

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