[发明专利]一种超导器件无效

专利信息
申请号: 88106054.2 申请日: 1988-08-13
公开(公告)号: CN1017110B 公开(公告)日: 1992-06-17
发明(设计)人: 山崎舜平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L39/14 分类号: H01L39/14;H01L21/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 肖掬昌,肖春京
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 一种 超导 器件
【权利要求书】:

1、一种超导器件,它包括:

一半导体衬底;

一在所述半导体衬底里形成的半导体器件;

一在所述衬底上形成的超导引线;以及

一连接所述半层体器件和所述超导引线的接触,

其特征在于,所述接触是一种由第一和第二导电层组成的双缓冲层,所述第一层与所述半导体器件接触并包括由WSi2、MoSi2、Si和Al的组合中的一个组成部分,所述第二层与所述超导引线接触并包括由Cu、Ag和Au的组合选出的一个组成部分。

2、权利要求1的超导器件,其特征在于,所述半导体器件是个绝缘栅晶体管。

3、权利要求2的超导器件,其特征在于,绝缘栅由所述超导引线的一部分形成。

4、权利要求3的超导器件,其特征在于,所述超导引线是在场绝缘薄膜上形成的。

5、权利要求1的超导器件,其特征在于,所述超导引线是由金属膜和超导膜构成的叠层。

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