[实用新型]中子测井仪刻度装置无效

专利信息
申请号: 88207631.0 申请日: 1988-06-24
公开(公告)号: CN2034682U 公开(公告)日: 1989-03-22
发明(设计)人: 陈志常;田丰永;孙惠如 申请(专利权)人: 西安石油勘探仪器总厂
主分类号: G01D13/04 分类号: G01D13/04;E21B47/00
代理公司: 陕西省石油化工专利事务所 代理人: 滕国材
地址: 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 中子 测井 刻度 装置
【说明书】:

发明创造论述一种石油及其它领域的地质勘探中所使用的核测井仪器的刻度装置,具体地说是中子测井仪,特别是补偿中子测井仪的刻度装置。

中子测井主要用来测量井眼穿过地层的孔隙度,为此,在测量之前必须对仪器进行刻度,也就是确定仪器的指示值(计数率或计数率比)与孔隙度之间的关系。目前使用的刻度装置有三种类型:第一种是用已知孔隙度的岩石(通常是石灰岩)建成的刻度井,如美国石油学会在休斯敦大学校园内建造的刻度井(API中子刻度井),胜利油田在山东东营建造的刻度井。第二种是用于井场测井前后检查、刻度仪器用的刻度器,如西安石油勘探仪器总厂生产的FBZ801补偿中子测井仪刻度器,它由有机玻璃制成,里面有400mei的中子源,调节中子源的位置使仪器的计数率的比值与仪器在孔隙度为15P·u的地层中所测得的计数率比值相同,于是这种刻度器代表孔隙度为15P·u。由于这种刻度器里的中子源的位置容易发生变化,而且一个刻度器不能适用于这种型号的所有仪器,需要经常与刻度井对比,这对远离刻度井的油田要进行这种对比是十分困难的,更不可能每个油田都花大量的投资建造刻度井。第三种刻度装置介于刻度井与刻度器之间,它是可移动的,但又是稳定的,适用于同一型号的所有仪器。目前,〔美〕德莱塞·阿特拉斯公司(DRESSER·ATLAS)和〔美〕斯仑贝谢公司(SCHLUMBERGER)的补偿中子测井仪都有这种装置。前者是一只塑料制成的园筒,为了减少环境影响,刻度时刻度器和仪器必须远离地面二米以上,周围五米以内不得有任何物体,为了安全,人员必须远离刻度器,调节刻度值时,经常将中子源取出、放进,很不方便。后者是一个铝制水罐,中间有一口“井”,刻度操作与测井操作相同,调节刻度值时也需要取出、放进中子源,操作不安全,使用不方便。

本实用新型的目的就是提供一种操作安全,使用方便可靠的第三种中子测井仪刻度装置。

本装置是由卧式园柱体和支架组成,卧式园柱体由三个不同直径的园柱筒组合套在一起,形成内、外两环形空间,外环形空间恰似一个环形水箱,容积较大,其内充满淡水,并带有进水口和出水口,出水口由阀门控制排水。内环形空间体积较小,其内装有调节块或某种液体,如油类、淡水等。卧式园柱体的中央部分是一空腔,称仪器腔。在刻度仪器时,将仪器插入仪器腔内,仪器的下端(装源端)从装置的末端伸出,以便把中子源装进仪器,当仪器移至装置内时,位于装置末端的相对园柱体绕一转轴转动的定位档板自动关闭仪器腔,以便给仪器定位。

该装置由于外环形空间厚度足够大,且充满了对快中子减速能力很强的水,表面辐射剂量很低,据实测,最高只有25毫伦/小时,在操作位置(刻度装置起端附近)剂量只有2.5毫伦/小时。同样,刻度仪器时受环境影响也极小,一米以外的物体不会有任何影响。仪器腔恰似一个调校工作台,在调节仪器时不必将中子源从仪器中取出,只需将仪器芯子从外壳中抽出即可,方便、安全。

内环形空间中装入调节块或某种液体是是用来调节刻度装置的视孔隙度。当装入调节块(如含氢丰富的塑料)靠近中子源时,视孔隙度降低,调节块远离中子源时,视孔隙度增大。当装入含氢丰富的液体(如油或水)时,这类物质越少,视孔隙度越低。因此,采用本装置可有效地模拟多种孔隙度。

下面通过实施例结合附图对本实用新型作进一步描述。

当内环形空间装入调节块时,其结构由图1至图4示出。

图1为总体结构剖视图,其中1-卧式园柱体,三个园柱筒均由20钢板弯折而成,长1100毫米,2-外环形空间及其内所充满的淡水,实际上是一个环形水箱,外径为500毫米,内径为160毫米,上方装有一进水口3,下方装有一个带有阀门4的出水口5,6-内环形空间,外径为155毫米,内径为98毫米,两端各焊有一个环形体7,8-调节块,它是一个用聚氯乙烯材料制成的环形园柱体,尺寸为φ153×φ100×100(毫米),9-调节杆,用来调节调节块8的位置,从而获得不同的视孔隙度,10-支架,11-中子仪器,12-转轴,13-卡销,14-定位档板,15-环形板,用来固定外环形空间2和内环形空间6。

图2为调节杆示意图,一端与调节块相连,其上刻有三个园环槽A、B、C,当位于装置末端的活动卡块卡入不同的园环槽A、B、C,使调节块8处于三个不同的位置,可得到三个不同的视孔隙度,例如:调节块位于中子源附近时,视孔隙度为5P·u,当调节块8位于长、短源距之间时,视孔隙度为30P·u,即A:5P·u,B:15P·u,C:30P·u。

图3为图1的A向图,其中9、12、13、14、15均同于图1,16-活动卡块。

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