[实用新型]硅晶体管自动/手动两用测试仪无效
申请号: | 88210848.4 | 申请日: | 1988-03-02 |
公开(公告)号: | CN2042205U | 公开(公告)日: | 1989-08-02 |
发明(设计)人: | 于仁生;关使肇;田野;李莹;周家胜;杜敏 | 申请(专利权)人: | 济南市半导体元件实验所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 山东省专利服务处 | 代理人: | 庄益利 |
地址: | 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体管 自动 手动 两用 测试仪 | ||
1、一种硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于由电源印制板模块[1],漏电参数测试印制板模块[2],击穿参数测试印制板模块[3],饱和参数测试印制板模块[4],hFE参数测试印制板模块[5],接口印制板模块[6],面板[7],微机[8]组成。
2、根据权利要求1陈述的硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于漏电参数测试印制板模块[2]由可调电源集成块[W1]、电阻[R1]、[R2]组成的恒压源及由集成电路块[BG1],电阻[R3]组成的比例运算器构成。
3、根据权利要求1所述的硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于击穿参数测试印制板模块[3]由晶体管[BG2],电阻[R4],[R5]、和稳压管[W]组成的高压恒流源,由集成电路块[BG3],电阻[R6]、[R7]组成的比例运算器构成。
4、根据权利要求1陈述的硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于饱和参数测试印制模块[4]由可调电源集成块[W2]、[W3]与电阻[R8]、[R9]组成的恒流源和集成电路块[BG4],电阻[10][11]、[12]组成的比例运算器构成。
5、根据权利要求1陈述的硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于hFE参数测试印制板模块[5]由可调电源集成块[W4]与电阻[R13][R14]组成的恒压源及由集成块[W5]与电阻[R15]组成的恒流源和由集成电路块[BG5]与电阻[R16]组成和比例运算器构成。
6、根据权利要求1所述的硅晶体管自动/手动两用测试仪其特征在于接口印制板模块[6]由微机[8]上的接口[P10-1],本板上的接口[P10-2]和继电器驱动器[MC1413-1]和[MC1413-2]构成。
7、根据权利要求1所述的硅晶体管自动/手动两测试仪其特征在于面板[7]上有多个方框分别装有手动测试按键[7-1],直读模拟表头[7-2],自动判档LED显示器[7-3],自动测试按扭钮[7-4],自动/手动测试方式转换开关[7-5],被测管插座[7-6],测试条件设置器或键盘[7-7]构成。
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