[其他]电子元器件动态可靠性监测装置无效
申请号: | 88211491 | 申请日: | 1988-03-07 |
公开(公告)号: | CN88211491U | 公开(公告)日: | 1988-12-28 |
发明(设计)人: | 邰庚年 | 申请(专利权)人: | 邰庚年 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人: | 谢晋光 |
地址: | 江苏省苏州市南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 动态 可靠性 监测 装置 | ||
本实用新型涉及一种电信号检测装置,具体地说,是一种电子元器件动态可靠性监测装置。
目前对电子元器件可靠性的监测,一般是在试验激励现场之外进行,即在试验过程的前后测试受试电子元器件的电特性参数,在力学试验和热学试验时是不加电的,因而,监测的只是表征不可恢复的稳态失效。显然,监测装置由万用表之类的仪表就可信任。然而,电子元器件的使用现场是一个包括几何空间、时间、热学、电学和力学等所构成的多维空间,是一个动态环境。电子元器件使用过程的失效不仅存在不可恢复的稳态失效,而且,还存在可恢复性失效、瞬时失效。在某些使用现场,短暂的瞬时失效会导致严重的事故。可见,提供一种能监测试验全过程,具有高时间灵敏度的电子元器件可靠性监测装置是非常必要的。
本实用新型的目的是提供一种电子元器件动态可靠性监测装置,能在试验的全过程中,对被测元器件加电,并能监测其电量的连续性、不连续性及瞬时连续性。
本实用新型的技术解决方案是:根据本实用新型的使用要求,它与已有监测装置的区别在于能对电子元器件在通电条件下的力学(振动、碰撞、冲击)或热学(高温、低温、高低温循环)的激励过程中,检测其内部机械系统响应所产生的电响应而引起的瞬间失效,即具有高的检测时间灵敏度。应用上,一般只要能排除10-6s~107s的瞬时失效即满足要求。同时,又由于所要监测的是被测电子元器件的电量连续性、稳态不连续性和瞬时不连续性三种信号,它们的共同特点是可以用逻辑“0”和“1”来表达。特别要指出的是监测对象包括有源元件:二极管、三极管、集成电路;无源元件:接插件、导带、电缆、开关;电路通道:接触点、焊接点。对它们的测试条件、要求及操作等几乎是相通的。因此,实现本实用新型的关键在于能接收宽度为10-6s的窄脉冲信号、并能记忆和显示。即本实用新型包括电源、可靠性信息接收单元、记忆单元、显示单元、输入插座和输出插座及箱体。
本实用新型与已有技术相比,具有明显的进步。它与电子元器件动态可靠性电接口夹具相配合,构成电子元器件动态可靠性的基本监测设备。具有10-6s监测灵敏度,有20个独立通道,对十大类电子元器件--二极管、三极管、红外管、光敏管、集成电路、继电器、电位器、接插件、开关及导带等都能进行全过程的动态可靠性监测;由于能监测电子元件可恢复瞬时失效,及早排除隐患,对提高整机可靠性和改进电子元件的生产工艺,提高产品质量具有积极的意义。
图1是本实用新型的电路结构示意图。
图2是本实用新型箱体示意图。
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