[发明专利]直线工位检验机的平移工位

说明书

本发明与玻璃容器或其他物件在检验时使用的移送设备有关，具体有关设有停留工位及平移工位的改良检验机的设计。

本发明与英国专利第1，552，994号有同受授人波加次基（H.Bogatski），该专利揭示了一种玻璃容器之类的移送系统，可在容器上进行各种操作，容器等在可变速度下通过多个加工“工位”（对容器检验）。设备有若干载送辊，各载送一个容器，沿一条直线输送路线移动。载送辊由进给螺杆（筒形凸轮）驱动，这种进给螺杆在不同轴向位置上有不同的螺距，以改变载送辊的前进速度。

本申请人等的市售AIDA系统以波加次基的发明作基础，在本文附图1中作先有技术装置的简示，标图号为10。检验工作在四个工位11，13，15及17上进行，这时容器因筒形凸轮50上的零螺距（停留）段而停止。筒形凸轮50的驱动和构形，可使载送辊30的速度，和用进给装置40将玻瓶送入机器（承载板46上）的运送器的速度匹配。筒形凸轮50采用正弦曲线形的槽55和凸颜52。（注：图1凸轮50的形状不表示实际构形，而仅说明凸轮52的可变螺距）。载送辊30在离开进给装置40及检验工位11，13，15及17时加速，进入检验工位及输出装置45时减速，而在检验工位11，13，15或17上时保持静止。当容器20在筒形凸轮30的停止或零螺距段上时，（通过和工位11，15上的旋转皮带12，14接触）在原地旋转，或用相对轨道保持静止;在AIDA系统中，每一类型的工位各设两个。

在上述系统中，载送辊围绕椭圆轨道运送，轨道有直线形的两侧和弧形的两端，在输送侧轨18上，载送辊导送的容器从检验工位上通过，载送辊30在回行侧19上回入容器进给区。进给装置40可以是与本申请有同受授人的美国专利申请案第4，227，606号中的装置，或是1987年8月14日提交、有同受授人的美国专利申请案第085，589号中的改良进给装置。

如图2所示，载送器基本有两根竖杆36及38，上面安装四个自由旋转轮31-34。轮与轮间垂直距离和杆与杆间的水平距离可变化，适应容器尺寸和形状的特定范围。载送辊30有凸轮随动件59，在凸轮瓣52上滑动。

本发明提出一种英国专利第1，552，994号中的输送系统的改良款式。英国专利申请第1，552，994号的检验机有一种优良设计，但由于在某些检验工作中，因为将物件从一个工位转移到另一工位上去停留，便会遇到某些限制。在使用电容探示器的诸如薄壁测验中，为在一个工位上检查容器的全圆周，必须将容器相对于放在运送器上的一个或多个垂直位置上的电容传感器旋转。在先有技艺领域中的一种薄壁电容检验法中，设置一个或多个电容传感条片，利用在条片上摩擦使容器旋转。为保证对容器作全圆周的检查，这种传感器必须长于待测容器最大值径处的圆周。并且还必须有将容器转移的构形，使每次仅有一个容器和电容传感器接触。两种要求都未能由先有技艺领域中的英国专利第1，552，994号设计，或实施专利发明的AIDA系统所满足。

因此，本发明的一个主要目的，是提供一种改良的容器运送装置，非常适合多功能检查机。一个相关的目的，是提出一种基本属于英国专利第1，552，994号中揭示的类型的改良运送装置，容纳一个电容薄壁检验工位，检验时，容器在检验工位中靠在一个伸长的传感器上旋转，或容纳另一种要求将容器平移的检验装置。

为达到上述或其他的目的，本发明提出一种在检验时移送物件（诸如圆形容器）的改良装置，其类型为有一个底部承托件，将物件从检验区中通过，有一个滑动载送件与承托件上的物件接触，导送物件通过检验区，有一个轴线与载送器行进路线平行的筒形凸轮，其突瓣在不同的轴向位置上有不同的螺距，载送器与凸轮瓣连接，从而载送器的速度取决于凸轮瓣的螺距。改进之处在于有一个非零螺距凸瓣处的平移工位，将载送器及物件通过平移工位，有物件接触装置载送器在该平移工位上配合，使物件在通过该工位时旋转。在本发明的一个理想实施方案中，凸轮瓣的与平移工位对应的轴向部分有恒定螺距从而将通过平移工位的物件在直线上输送。最理想的是这凸轮的轴向部分的轴向长度，和平移工位的宽度，都大于物件的圆周，因此可对平移工位上的物件的全圆周作检验。

在本发明的一个方面，接触装置可以是一个导轨，将物件推靠载送器，使物件在导轨和载送器之间旋转。否则，接触装置也可以是至少一个传感条片，和物件摩擦接触，使之靠在传感片上旋转，利用与该传感片相关的装置作检验。在这种易代接触装置的一个特定方案中，传感片为一种电容薄壁检测器一个元件。