[发明专利]具有位置探测器的层析X光摄象机

权利要求书

1、一种层析X光摄象机，该摄象机用于执行对物体(62)的层析检测并包含：

(a)X光线源(24)；

(b)在物体(62)层析检测的过程中绕转动中心线转动的用来支承至少一个X光线源(24)的可转动支承部件(12)；

(c)在层析检测过程中用来传感X光线并产生由每个探测器探测的X光线表示的电信号的多个探测器(26)；

(d)为了将被检测物体的图象背面投射而处理电信号的部件；

其特征是，所述层析X光摄象机还包含：

静止的基准部件(42)相对所述可转动部件定位，以使之当所述可转动部件绕所述转动中心线转动时保持静止；

用于在所述检测过程中计量可转动支承部件和静止基准部件之间相对位置关系的部件(40)；

用于在所述检测过程中产生表示可转动支承部件和静止基准部件之间相对位置关系的数据的部件，以便当背面投射被检测物体的图象时，可利用该数据在背面投射图象中补偿由于可转动支承部件和静止基准部件之间的机械振动。

2、如权利要求1所述层析X光摄象机，其特征在于：可转动支承部件（12）定义了一个转动平面，并且转动平面内的两个相互垂直的坐标进一步地确定了位置关系。

3、如权利要求2所述层析X光摄象机，其特征在于：具有的引导部件是一环（42）。

4、如权利要求3所述层析X光摄象机，其特征在于，可转动支承部件是可转动套环（12），它定义了第一假想的转动平面，并且环（42）位于第二假想平面内，该第二假想平面或者实质上与套环（12）的第一转动平面平行，或者是与之重合。

5、如权利要求4所述层析X光摄象机，其特征在于：探测部件包含两个位置探测部件，它们在第二假想平面内以两个相互垂直的坐标探测环的位置。

6、如权利要求5所述层析X光摄象机，其特征在于：探测部件包含第三位置探测部件（128），该探测部件以实质上垂直于第二假想平面的坐标探测环的位置。

7、如权利要求6所述层析X光摄象机，其特征在于：还包含确定套环位置的部件（126），该部件以实质上垂直于第一转动平面的坐标上响应第三探测部件。

8、如权利要求5所述层析X光摄象机，其特征在于：量测位置关系的部件（40）包含固定在套环上并适宜用来传感从X光线源来的X光线，以确定环的位置的X光线探测器（70，72）。

9、如权利要求8所述层析X光摄象机，其特征在于：环（66）是半透明的并包含能从结论图象中观察检测质量的部件。

10、如权利要求9所述层析X光摄象机，其特征在于：该装置包含具有已知形状的取象目标物部件。

11、如权利要求9所述层析X光摄象机，其特征在于：该装置包含具有已知X光线密度的取象目标物部件。

12、如权利要求5所述层析X光摄象机，其特征在于：量测位置关系的部件（40）和产生所述数据的所述部件包含一对机械的位置探测器，该位置关系探测器（48）包含响应由机械地探测环位置及其表示的所述数据而提供电信号的部件。

13、如权利要求12所述层析X光摄象机，其特征在于：机械式位置探测器（60）是固定在套环（12）上，并且，环是固定到静止基准部件上。

14、如权利要求5所述层析X光摄象机，其特征在于：探测部件包含第四个用来探测套环（12）相对于环（42）的角度位置的部件（105）。

15、如权利要求3所述层析X光摄象机，其特征在于：静止基准部件包含一张患者台部件（64）并且环（42）固定到患者台上。

16、如权利要求2所述层析X光摄象机，其特征在于：探测部件包含至少一个具有反射能的发射源和至少一个探测这反射能的探测器。

17、如权利要求1所述层析X光摄象机，其特征在于：可转动支承部件（12）定义一转动平面，并且，在所述检测过程中，量测可转动支承部件和静止基准部件之间位置关系的所述部件（40）以及产生所述数据的部件包含设置在所述转动平面中的为了量测位置关系和产生表示所述数据的电信号的探测器部件。