[发明专利]光记录体及其制造方法无效
申请号: | 89102691.6 | 申请日: | 1989-04-22 |
公开(公告)号: | CN1018212B | 公开(公告)日: | 1992-09-09 |
发明(设计)人: | 樋端久治;黑岩光之;藤堂昭;美浓田武 | 申请(专利权)人: | 三井石油化学工业株式会社 |
主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24 |
代理公司: | 上海专利事务所 | 代理人: | 王孙佳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 及其 制造 方法 | ||
1、一种包括基体和形成于其上的记录层的光记录体,其特征在于,其中记录层被能量束辐照以在其上形成相应于给定信息的信息单元,从而记录该信息,所述记录层含有Te作为主要成分,另含有Cr、C和H,且该记录层中基于构成该记录层的原子总量计算的Cr的含量比例为0.1-40%(原子),C的这一比例为0.1-40%(原子),H的这一比例为5-40%(原子)。
2、一种包括基体和形成于其上的记录层的光记录体,其特征在于,其中记录层被能量束辐照以在其上形成相应于给定信息的信息单元,从而记录该信息,所述的记录层含有Te作为主要成分,另含有Cr、C和H,且该记录层中,基于该记录层所含的Te和Cr原子总量计算的Cr的含量比例为0.5-15%(原子),基于该记录层中所含的Te、Cr和C原子的总量计算的C含量比例为0.1-40%(原子),基于构成该记录层的原子总量计算的H的含量比例为5-40%(原子)。
3、根据权利要求1所述的光记录体,其特征在于,其中基于构成该记录层的原子总量计算的C的含量比例为5-40%(原子)。
4、根据权利要求2所述的光记录体,其特征在于,其中,基于该记录层中所含的Te、Cr和C的原子总量计算的C的含量比例为5-40%(原子)。
5、根据权利要求1所述的光记录体,其特征在于,其中,基于构成该记录层的原子总量计算的C含量比例为0.1-5%(原子)。
6、根据权利要求2所述的光记录体,其特征在于,其中,基于该记录层中所含的Te、Cr及C的原子总量计算的C含量比例为0.1-5%(原子)。
7、根据权利要求1至6之任一项所述的光记录体。其特征在于,其中,该记录层中所含C的含量随着其离开基体表面的距离的增大而减少。
8、一种制备光记录体的方法,其特征在于,所述的方法包括:
在一基体上形成如在权利要求1-7中之任一项所述的该记录层;
接着,使如此形成的记录层在70-300℃下经受热处理达5秒以上。
9、根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在形成记录层的步骤中,在基体上形成记录层,而使层形成操作后阶段上的烃气浓度低于层形成操作开始端所使用的烃气之浓度。
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