[实用新型]微机化干涉扫描微位移测量仪无效

专利信息
申请号: 89206552.4 申请日: 1989-04-29
公开(公告)号: CN2057744U 公开(公告)日: 1990-05-30
发明(设计)人: 钱石南;冯焕清;张志萍;黄文浩;施周宏;阚娅 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 中国科学技术大学专利事务所 代理人: 童建安
地址: 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 微机 干涉 扫描 位移 测量仪
【权利要求书】:

1、一种微机化干涉扫描微位移测量仪,它由机械系统、光电系统、测量显示系统组成,其中:

(1)机械系统有平行弹簧导轨(15),中心测杆(16)。

(2)光电系统有激光器(1),压电陶瓷(9),法布里·白洛干涉仪(10,11)。

(3)测量显示系统有放大器(21),接口(22)。

其特征在于:来自激光器(1)的光束经过光准直系统、分光偏角系统后进入法布里·白洛干涉仪(10,11),然后该光束穿过聚光镜(13),射到反射镜(14)上;压电陶瓷(9)与干涉仪的上腔片(10)相连,由压电扫描非线性补偿装置驱动;聚光镜(13)、法布里·白洛干涉仪的下腔片(11)与测杆(16)刚性连接成仪器中的可移动部件,光导纤维(20)置于光电转换器(26)的前部,微机(28)经模数转换器(22),放大器(21)与光电转换器(26)连接。

2、根据权利要求1规定的微位移测量仪,其特征在于所述光束经分光偏角系统后,分成(A,b,c)三束光并同时进入一个法布里·白洛干涉仪(10,11)。

3、根据权利要求1规定的微位移测量仪,其特征在于所说的分光偏角系统有分光镜(6Ⅰ或6Ⅱ)和左、右楔形镜(7,8)组成,分光镜(6Ⅰ或6Ⅱ)具有二个分光面,楔形镜(7,8)有不同的楔角。

4、根据权利要求1规定的微位移测量仪,其特征在于所说的压电扫描非线性补偿装置有微机(28)控制的扫描波形数模转换器(23)和波形放大器(24)组成。

5、根据权利要求1规定的微位移测量仪,其特征在于所说的光准直系统有平面分光镜(2),分光对准板(4)和观察窗(3)组成,其中平面分光镜(2)的平面与激光光束成45°角,分光对准板(4)与激光光束精确垂直。

6、根据权利要求1规定的微位移测量仪,其特征在于所说的仪器中可移动部件为全微膨胀合金结构。

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